情報処理装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：渡邊薫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-191263
公開番号（公開出願番号）：特開2017-021045
出願日： 2016年09月29日
公開日（公表日）： 2017年01月26日
要約：

【課題】測定誤差を簡便な処理によって補正可能な微小粒子測定装置の提供。【解決手段】微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出する検出部と、該検出部により取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する処理部と、を有する微小粒子測定装置を提供する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出する検出部と、該検出部により取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する処理部と、を有する微小粒子測定装置。

IPC (1件)：

G01N 15/14

FI (1件)：

G01N15/14 J

Fターム (31件)：

2G043AA01 , 2G043BA17 , 2G043CA04 , 2G043DA05 , 2G043DA09 , 2G043EA01 , 2G043EA14 , 2G043FA02 , 2G043FA06 , 2G043FA07 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA09 , 2G043JA02 , 2G043JA03 , 2G043JA05 , 2G043KA01 , 2G043KA02 , 2G043KA05 , 2G043KA09 , 2G043LA02 , 2G043LA03 , 2G043MA03 , 2G043MA05 , 2G043MA12 , 2G043MA16 , 2G043NA01 , 2G043NA02 , 2G043NA05 , 2G043NA06 , 2G043NA13

引用特許：

審査官引用 (13件)

微小粒子測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2014-226991 出願人：ソニー株式会社
微小粒子測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2011-199892 出願人：ソニー株式会社
特許第5772425号

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