研究者
J-GLOBAL ID:201801018289126150   更新日: 2020年01月06日

宇佐美尚人

Naoto Usami
所属機関・部署:
研究分野 (2件): 航空宇宙工学 ,  電子デバイス・電子機器
研究キーワード (2件): RF ,  MEMS
競争的資金等の研究課題 (1件):
  • 2018 - 2020 革新的集積技術で実現される超小型完全自律式プログラマブルマターの研究
論文 (10件):
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MISC (17件):
  • Damage Assessment Structure of Test-Pad Post-Processing on CMOS LSIs. 2019 IEEE 32ND INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS). 2019. 184-187
  • Continuity assessment for supercritical-fluids-deposited (SCPD) Cu film as electroplating seed layer. 2019 IEEE 32ND INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES (ICMTS). 2019. 54-57
  • 宇佐美 尚人, 肥後 昭男, 太田 悦子, 三田 吉郎. 超臨界流体を用いた酸化膜上への銅薄膜直接成膜技術による高アスペクト比ナノ開口構造の埋め込みの実現. 「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム論文集 電気学会センサ・マイクロマシン部門 [編]. 2018. 35
  • Naoto Usami, Akio Higo, Ayako Mizushima, Yuki Okamoto, Yoshio Mita. Test structure for electrical assessment of UV laser direct fine patterned material. 2018 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS). 2018
  • 肥後 昭男, 王 海濱, 久保 貴哉, 瀬川 浩司, 杉山 正和, 宇佐美 尚人, 岡本 有貴, 山田 健太郎, 三田 吉郎. LSI一体集積のためのシリコン上PbS量子ドット赤外フォトダイオードの試作. 「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム論文集 電気学会センサ・マイクロマシン部門 [編]. 2017. 34
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学歴 (1件):
  • 2016 - 2019 東京大学 工学系研究科 電気系工学専攻博士後期課程
経歴 (2件):
  • 2018/04 - 2019/03 日本学術振興会 DC2
  • 2019/04 - 2020/03 日本学術振興会 PD
所属学会 (3件):
電気学会 ,  電子情報通信学会 ,  IEEE
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