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J-GLOBAL ID:201802229496950111   整理番号:18A0728898

分光光電子ホログラフィー法によるシリコン中にドープした不純物原子の3D原子配置の解析【JST・京大機械翻訳】

Analyses of 3D atomic arrangements of impurity atoms doped in silicon by spectro-photoelectron holography technique
著者 (11件):
資料名:
巻: 2018  号: IWJT  ページ: 1-6  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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第一原理シミュレーションと組み合わせた分光光電子ホログラフィー法により,シリコン(Si)結晶中にドープしたヒ素(As)原子の局所三次元原子構造を決定した。3dコアレベル光電子分光法は,BEH,BEMおよびBELと表示される3種類のAs原子の存在を示した。BEHのAs原子は置換サイトを占める電気的に活性なAsに対応していたが,BEMのAs原子はAs_nV(n=2~4)型クラスタに埋め込まれた電気的に不活性なAsに対応し,BELのそれらは局所的に不規則な構造の電気的に不活性なAsに帰属された。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】
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分類 (5件):
分類
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分子構造  ,  酸化物薄膜  ,  塩基,金属酸化物  ,  無機化合物一般及び元素  ,  半導体薄膜 

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