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J-GLOBAL ID：201802258245945669   整理番号：18A1492572

プロセス変動から信頼性へ:ナノメータ時代におけるディジタル回路のタイミングの調査

From Process Variations to Reliability: A Survey of Timing of Digital Circuits in the Nanometer Era

著者 (3件)： Li Bing (Technical University of Munich) ,  Hashimoto Masanori (Osaka University) ,  Schlichtmann Ulf (Technical University of Munich)
資料名： IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology (Web)  (IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology (Web))
巻： 11  ページ： 2-15(J-STAGE)  発行年： 2018年 
JST資料番号： U0110A  ISSN： 1882-6687  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 先進技術ノードにおいて,物理的寸法の縮小するトランジスタおよび相互接続は,製造中に大きなプロセス変動を受け,信頼性の問題を引き起こす傾向がある。これらの基礎的な変化は,ディジタル回路のための設計方法論のオーバーホールを必要とする。本論文において著者らは,最近導入された技術を概観し,特徴サイズの減少によるデバイスの製造および信頼性の問題に対する,不確実性の影響を解析した。これらの技術は,変化/エージングのモデリングから回路レベルの解析に及ぶ。さらに,クロックスキュー同調および電圧同調のような,これらの効果に対抗するアクティブ技術も本論文ではカバーした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 変動 ,  *信頼性 ,  *ディジタル回路 ,  トランジスタ ,  方法論 ,  オーバーホール ,  製造 ,  不確実性 ,  相互接続 ,  タイミング解析 ,  *ナノテクノロジー
準シソーラス用語： プロセス変動 ,  設計方法論

著者キーワード (7件)： タイミング解析 ,  プロセス変動 ,  加齢 ,  階層的タイミング ,  クロックスキュー ,  騒音 ,  回路同調

分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  電子回路一般  (NC05010N)

引用文献 (101件)：

• [1] Brglez, F., Bryan, D. and Kozminski, K.: Combinational Profiles of Sequential Benchmark Circuits, Proc. Int. Symp. Circuits and Syst. (ISCAS), pp.1929-1934 (1989).
• [2] Nassif, S.R.: Modeling and Analysis of Manufacturing Variations, Proc. Custom Integr. Circuits Conf. (CICC), pp.223-228 (2001).
• [3] Blaauw, D., Chopra, K., Srivastava, A. and Scheffer, L.: Statistical Timing Analysis: From Basic Principles to State of the Art, IEEE Trans. Comput.-Aided Design Integr. Circuits Syst., Vol.27, No.4, pp.589-607 (2008).
• [4] Dennard, R.H., Gaensslen, F.H., Yu, H.-N., Rideout, V.L., Bassous, E. and Leblanc, A.R.: Design of ion-implanted MOSFETs with very small physical dimensions, IEEE J. Solid-State Circuits, Vol.9, No.5, pp.256-268 (1974).
• [5] Yang, J., Capodieci, L. and Sylvester, D.: Advanced timing analysis based on post-OPC extraction of critical dimensions, Proc. Design Autom. Conf. (DAC), pp.359-364 (2005).

タイトルに関連する用語 (4件)： プロセス変動 ,  ナノメータ ,  ディジタル回路 ,  調査