特許
J-GLOBAL ID：201803002396124813

機器状態監視システム

発明者：
原 靖彦

原 靖彦 について


出願人/特許権者：
KYB株式会社

KYB株式会社 について


代理人 (9件)： 大森 純一 ,  高橋 満 ,  中村 哲平 ,  折居 章 ,  関根 正好 ,  金子 彩子 ,  金山 慎太郎 ,  千葉 絢子 ,  白鹿 智久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-002449
公開番号（公開出願番号）：特開2018-112446
出願日： 2017年01月11日
公開日（公表日）： 2018年07月19日
要約：
【課題】新たな配線や回路を追加することなく、機器の状態を検出するためのセンサーの劣化状態を判定することを可能にする。【解決手段】この機器状態監視システムは、機器の状態を検出するセンサーと、センサーの出力から検出データを生成する第1の演算処理回路とを有する複数のセンサーモジュールと、複数のセンサーモジュールにより各々生成された検出データを分析して機器の状態を診断する第2の演算処理回路を有するデータ分析装置とを有する。複数のセンサーモジュールの第1の演算処理回路は各々、センサーのゼロ点出力のデータを生成し、データ分析装置の第2の演算処理回路は、複数のセンサーモジュールの第1の演算処理回路により各々生成されたセンサーのゼロ点出力のデータをもとにセンサーの劣化状態を判定する。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
機器の状態を検出するセンサーと、前記センサーの出力から検出データを生成する第1の演算処理回路とを有する複数のセンサーモジュールと、 前記複数のセンサーモジュールにより各々生成された前記検出データを分析して前記機器の状態を診断する第2の演算処理回路を有するデータ分析装置とを有し、 前記複数のセンサーモジュールの前記第1の演算処理回路は各々、前記センサーのゼロ点出力のデータを生成し、 前記データ分析装置の前記第2の演算処理回路は、前記複数のセンサーモジュールの前記第1の演算処理回路により各々生成された前記センサーのゼロ点出力のデータをもとに前記センサーの劣化状態を判定するように構成された 機器状態監視システム。
IPC (2件)：
G01D 21/00 ,  G01M 99/00
FI (2件)：
G01D21/00 Q ,  G01M99/00 Z
Fターム (27件)：
2F073AA02 ,  2F073AA03 ,  2F073AA11 ,  2F073AB01 ,  2F073BB01 ,  2F073BB07 ,  2F073BC02 ,  2F073CC03 ,  2F073CC08 ,  2F073DD02 ,  2F073EE01 ,  2F073GG01 ,  2F073GG07 ,  2F076BA13 ,  2F076BA16 ,  2F076BD07 ,  2F076BD11 ,  2F076BD12 ,  2F076BE07 ,  2F076BE09 ,  2F076BE18 ,  2G024AD01 ,  2G024AD21 ,  2G024AD50 ,  2G024BA11 ,  2G024CA27 ,  2G024FA02
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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