特許
J-GLOBAL ID:201803003314529531
接合相手の表面に材料を連続させて接続する前に達成可能な接着強度を決定するためのアレンジメント
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
家入 健
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-512288
公開番号(公開出願番号):特表2018-534539
出願日: 2016年08月31日
公開日(公表日): 2018年11月22日
要約:
接合相手の表面に材料を連続させて接続する前に達成可能な接着強度を決定するためのアレンジメントでは、複数の検出器が波長幅内の電磁放射線の空間分解スペクトル分析のために配置され、電子評価部に接続されている。検出器は、広帯域放射線源から出射され、接合相手の表面に入射して反射した放射線及び/又は電磁放射線を透過する接合相手を通過して検出器に至った放射線を検出することができる。この点、横方向かつ時間的に均一な電磁放射線の強度が観察されるべきである。接合相手は、各電磁放射線を100%吸収せずに、透過及び/又は反射が可能な材料から形成されている。接合相手の予め設定可能な表面上に配置された個々の局所点に関して、空間解像度及び波長解像度を有して検出された検出器の測定信号が波長幅内で検出できるように電子評価部が配置されており、複数の位置で検出された測定信号は、検出された表面(ハイパーキューブ)の各部分領域と関連付けることができる。データ削減が、部分領域の全ての測定信号のために実行可能である。これらの選択された特徴とメモリに記録された回帰モデルとを用いて、対応する接着強度についての計算書を得ることができる。【選択図】なし
請求項(抜粋):
接合相手の表面に材料を連続させて接続する前に達成可能な接着強度を決定するためのアレンジメントであって、当該アレンジメントでは、波長幅内の電磁放射線の空間分解スペクトル分析のために設けられた複数の検出器が列配置で又は行列配置で配置され、当該検出器は電子評価部に接続され、広帯域放射線源から出射した電磁放射線が、一方の前記接合相手の表面で、又は、材料が連続して接続される前記接合相手の表面上に形成された層で反射した後に、及び/又は、電磁放射線を透過する前記接合相手に照射した後に、前記検出器に当たるように配置され、
電磁放射線が反射又は透過する表面で、横方向かつ時間的に均一な電磁放射線の強度が観察されるように照射が行われ、
少なくとも前記接合相手又はその表面に形成され電磁放射線を表面で方向付けるコーティング層は、各電磁放射線を100%吸収せずに、少なくとも2%の透過又は反射が可能な材料から形成されており、
前記接合相手の予め設定可能な表面上に配置された個々の局所点に関して、空間解像度及び波長解像度を有して検出された前記検出器の測定信号が波長幅内で検出できるように電子評価部が配置され、その際、複数の位置で検出された測定信号は、検出された表面(ハイパーキューブ)の各部分領域と関連付けることができ、
有意な特徴を選択するデータ削減が、波長解像度を有して検出された検出表面の部分領域の全ての測定信号のために実行可能であり、
これらの選択された特徴と、予め決定され電子メモリに記録された回帰モデルとを用いて、対応する接着強度についての計算書を得ることができ、前記回帰モデルは、材料が連続して接続され接着強度が決定された前記接合相手と類似の方法で得られた特徴セットを用いて準備された、
アレンジメント。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (20件):
2G059AA03
, 2G059BB08
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059FF01
, 2G059FF20
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059HH03
, 2G059JJ19
, 2G059KK04
, 2G059MM02
, 2G059MM03
, 4F211AD03
, 4F211AD04
, 4F211AD20
, 4F211AQ03
, 4F211TA03
, 4F211TD01
引用特許:
出願人引用 (7件)
-
特開昭60-144645
-
塗布状態測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2011-185193
出願人:住友電気工業株式会社
-
スペクトル画像化装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-149600
出願人:株式会社宇宙情報技術研究所, 安岡善文, 越智士郎
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審査官引用 (7件)
-
特開昭60-144645
-
塗布状態測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2011-185193
出願人:住友電気工業株式会社
-
スペクトル画像化装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-149600
出願人:株式会社宇宙情報技術研究所, 安岡善文, 越智士郎
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