特許
J-GLOBAL ID:201803003456953098

半導体装置、および、半導体装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉竹 英俊 ,  有田 貴弘
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-179367
公開番号(公開出願番号):特開2018-046139
出願日: 2016年09月14日
公開日(公表日): 2018年03月22日
要約:
【課題】本願明細書に開示される技術は、トレンチゲート型の炭化珪素半導体装置の製造する際の、工程数を減少させることができる技術に関するものである。【解決手段】本技術に関する半導体装置は、第1のトレンチ(80)と、第2のトレンチ(50a)と、複数の第3のトレンチ(50b)と、第2の導電型の第1の保護拡散層(83)と、第2の導電型の第2の保護拡散層(70)と、それぞれの第3のトレンチ(50b)の下部に形成される、第2の導電型の第3の保護拡散層(71)とを備え、それぞれの第3のトレンチ(50b)は、セル領域から離れるにつれて浅く形成され、それぞれの第3の保護拡散層(71)の下面は、セル領域から離れるにつれて浅くなる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
セル領域を有する第1の導電型のドリフト層と、 前記セル領域における前記ドリフト層の表層に形成される第1のトレンチと、 前記セル領域を平面視において囲み、かつ、前記ドリフト層の表層に形成される第2のトレンチと、 前記第2のトレンチを平面視において少なくとも部分的に囲み、かつ、前記ドリフト層の表層に形成される複数の第3のトレンチと、 前記第1のトレンチの下部に形成される、第2の導電型の第1の保護拡散層と、 前記第2のトレンチの下部に形成される、第2の導電型の第2の保護拡散層と、 それぞれの前記第3のトレンチの下部に形成される、第2の導電型の第3の保護拡散層とを備え、 それぞれの前記第3のトレンチは、前記セル領域から離れるにつれて浅く形成され、 それぞれの前記第3の保護拡散層の下面は、前記セル領域から離れるにつれて浅くなる、 半導体装置。
IPC (7件):
H01L 29/06 ,  H01L 29/78 ,  H01L 29/12 ,  H01L 21/336 ,  H01L 29/41 ,  H01L 29/423 ,  H01L 29/49
FI (14件):
H01L29/78 652P ,  H01L29/78 652T ,  H01L29/78 658G ,  H01L29/78 658A ,  H01L29/06 301M ,  H01L29/06 301G ,  H01L29/78 652K ,  H01L29/78 653C ,  H01L29/78 652D ,  H01L29/78 652J ,  H01L29/06 301V ,  H01L29/44 S ,  H01L29/44 L ,  H01L29/58 G
Fターム (16件):
4M104AA03 ,  4M104BB05 ,  4M104BB14 ,  4M104BB21 ,  4M104CC05 ,  4M104DD08 ,  4M104DD26 ,  4M104FF02 ,  4M104FF04 ,  4M104FF06 ,  4M104FF13 ,  4M104FF27 ,  4M104GG09 ,  4M104GG18 ,  4M104HH18 ,  4M104HH20
引用特許:
審査官引用 (6件)
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