特許

J-GLOBAL ID：201803006364926700

電磁波のビーム観測方法及び観測システム

発明者： 福田 承生 ,  加藤 康作 ,  邱 紅松 ,  ▲高▼野 恵介 ,  中嶋 誠 ,  吉村 政志 ,  エンピゾ メルヴィン ジョン フェルナンデス ,  南 佑輝 ,  山ノ井 航平 ,  清水 俊彦 ,  猿倉 信彦 ,  立松 芳典 ,  出原 敏孝 ,  クトリャン エドワード ミハイロヴィチ ,  谷 正彦
出願人/特許権者： 株式会社福田結晶技術研究所 ,  国立大学法人大阪大学 ,  国立大学法人福井大学
代理人 (1件)： 福森 久夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-170007
公開番号（公開出願番号）：特開2018-036158
出願日： 2016年08月31日
公開日（公表日）： 2018年03月08日
要約：

【課題】ジャイロトロン等によって発生するマイクロ波、テラヘルツ波、赤外光のビームの位置またはプロファイルのより簡便な観測方法及びシステムを提供すること。【解決手段】酸化亜鉛結晶からの発光を用いることによってジャイロトロンなどから出る電磁波のビームの位置またはプロファイルを観測する方法及びシステム。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

マイクロ波、テラヘルツ波または赤外光のビームの位置またはプロファイルを観測する方法において、酸化亜鉛結晶からの発光を用いることを特徴とする電磁波のビーム観測方法。

IPC (3件)：

G01J 1/02 ,  C30B 29/16 ,  G01J 1/42

FI (3件)：

G01J1/02 L ,  C30B29/16 ,  G01J1/42 E

Fターム (12件)：

2G065AA20 ,  2G065AB02 ,  2G065AB03 ,  2G065BA04 ,  2G065BA06 ,  2G065BA34 ,  4G077AA02 ,  4G077AB04 ,  4G077BB07 ,  4G077CB03 ,  4G077HA02 ,  4G077KA15

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 光強度分布検出方法、光強度分布検出装置、アニール装置及びアニール方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-020104   出願人：株式会社液晶先端技術開発センター
• 半導体結晶の欠陥評価方法及び評価装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-219745   出願人：独立行政法人宇宙航空研究開発機構
• テラヘルツ電磁波発生装置及び発生方法並びに基体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-342677   出願人：国立大学法人東北大学

引用文献：

審査官引用 (1件)

• Upconversion luminescence and optical power limiting effect based on two- and three-photon absorptio