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MISC (32件)
- 関 岳人, 河野 祐二, 幾原 雄一, 柴田 直哉. 原子分解能磁場フリー電子顕微鏡による超高分解能磁場観察. 表面と真空. 2023. 66. 12. 683-688
- 関 岳人, 河野 祐二, 幾原 雄一, 柴田 直哉. 走査透過電子顕微鏡による原子レベルの磁場観察. 固体物理. 2023. 58. 7. 377-383
- Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuji Kohno, Akiho Nakamura, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Low-dose atomic-resolution observation of beam-sensitive materials via OBF STEM imaging technique. JEOL News. 2023. 58. 1. 21-28
- 大江 耕介, 関 岳人, 河野 祐二, 中村 明穂, 幾原 雄一, 柴田 直哉. OBF STEMによる電子線敏感材料の低ドーズ原子分解能観察. 日本電子News. 2023. 55. 1. 2-7
- 関 岳人, 河野 祐二, 幾原 雄一, 柴田 直哉. 走査透過電子顕微鏡による原子レベルの磁場観察. 固体物理. 2023. 58. 21-27
- 河野 祐二, 関 岳人, 森下 茂幸, 柴田 直哉. 原子分解能磁場フリー電子顕微鏡の開発と原子磁場観察. 顕微鏡. 2022. 57. 3. 131-138
- 馮 斌, 魏 家科, 石川 亮, 関 岳人, 柴田 直哉, 幾原 雄一. 機能コアにおける先端電子顕微鏡解析. まてりあ. 2022. 61. 10. 640-644
- 大江 耕介, 関 岳人, 河野 祐二, 中村 明穂, 幾原 雄一, 柴田 直哉. OBF STEM法を利用した低ドーズ原子分解能観察. 顕微鏡. 2022. 47. 2. 49-53
- 遠山慧子, 関岳人, 蟹谷裕也, 冨谷茂隆, 幾原雄一, 柴田直哉. 微分位相コントラストSTEMを用いたGaN/AlGaN/InGaNマルチヘテロ接合の局所電場観察. 電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌). 2022. 142. 3. 367-372
- Scott Findlay, Leslie Allen, Hamish Brown, Zhen Chen, Jim Ciston, Yuichi Ikuhara, Ryo Ishikawa, Colin Ophus, Gabriel Sánchez-Santolino, Takehito Seki, et al. Phase-Contrast-Based Structure Retrieval Methods in Atomic Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy - When They Hold and When They Don't. Microscopy and Microanalysis. 2020. 26. S2. 442-443
- 遠山慧子, 関岳人, 蟹谷裕也, 工藤喜弘, 冨谷茂隆, 幾原雄一, 柴田直哉. DPC STEMを用いたGaN系半導体ヘテロ接合界面における電場定量観察法の開発. 日本セラミックス協会秋季シンポジウム講演予稿集(CD-ROM). 2020. 33rd
- Yoshiki O Murakami, Takehito Seki, Akihito Kinoshita, Tetsuya Shoji, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. New Magnetic Structure Imaging Techniques in Polycrystalline Materials by DPC STEM. Microscopy. 2019. 68. Supplement_1. i36-i36
- Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Light Element Imaging Technique at Low Dose Condition by Processing Simultaneously Obtained STEM Images Using a Segmented Detector. Microscopy and Microanalysis. 2019. 25. S2. 484-485
- 遠山慧子, 関岳人, 蟹谷裕也, 工藤喜弘, 冨谷茂隆, 幾原雄一, 幾原雄一, 柴田直哉, 柴田直哉. DPC STEMを用いたGaN系半導体ヘテロ界面電場直接観察. 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2019. 80th
- R. Ishikawa, S. Findlay, T. Seki, G. Sanchez-Santolino, Y. Kohno, Y. Ikuhara, N. Shibata. Anisotropic Atomic Electric Fields of Si Dopants in Monolayer Graphene. AMTC Letters. 2019. 6. 22-24
- Y. Murakami, T. Seki, A. Kinoshita, T. Shoji, Y. Ikuhara, N. Shibata. Development of Magnetic Structure Imaging Techniques in Polycrystalline Materials by DPC STEM. AMTC Letters. 2019. 6. 48-49
- S. Toyama, T. Seki, H. Sasaki, Y. Ikuhara, N. Shibata. Electric field quantification method for a p-n junctionElectric field quantification method for a p-n junction by DPC STEM by DPC STEM. AMTC Letters. 2019. 6. 20-21
- K. Ooe, T. Seki, Y. Ikuhara, N. Shibata. Low Dose STEM Imaging Technique for Light Element Atoms by Processing Images Simultaneously Obtained by a Segmented Detector. AMTC Letters. 2019. 6. 26-27
- T. Seki, Y. Ikuhara, N. Shibata. Iterative Potential Reconstruction Method based on DPC signal from thick specimens. AMTC Letters. 2019. 6. 46-47
- Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Iterative Algorithm of Atomic Potential Reconstruction Based on DPC Signal from Thick Specimens. Microscopy and Microanalysis. 2019. 25. S2. 60-61
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