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J-GLOBAL ID:201902266770998367   整理番号:19A2431854

環境条件下のX線吸収分光法および80°Cの温度と30~80%の相対湿度での中性子反射率測定により分析したPt基板上のキャスティングにより形成した水和NafionR薄膜のサブ層状構造

Sublayered Structures of Hydrated Nafion Thin Film Formed by Casting on Pt Substrate Analyzed by X-ray Absorption Spectroscopy under Ambient Conditions and Neutron Reflectometry at Temperature of 80°C and Relative Humidity of 30-80%
著者 (16件):
資料名:
巻: 87  号:ページ: 270-275(J-STAGE)  発行年: 2019年 
JST資料番号: U1358A  ISSN: 2186-2451  CODEN: EECTFA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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高分子電解質膜と触媒層結合材の構造と水の分布は,高分子電解質燃料電池用の新しいイオン伝導性イオノマの設計に重要である。面内水分布の理解を助けるために,天然SiO2層を有するSi(100)上に堆積した20nmのPt層上に形成された150nm厚さのNafionR膜上で中性子反射測定(NR)を行った。空気中の室温での大気圧X線吸収分光法により,Pt基板は金属性であることが分かった。NRについては,温度を80°Cに設定し,相対湿度を30,50および80%に設定し,発電条件をシミュレーションした。明瞭なNR変調が各条件下で得られた。NRデータは,Nafionと水の異なる密度を持つ基板に平行な3サブ層モデルと非常に良く適合した。Pt基板の影響はNafion/Pt界面だけでなく薄膜構造にも観察された。Pt上のNafion膜における水の取り込みもSiO2上のそれとは異なっていた。80°Cにおいて,Pt基板の表面は酸化されると提案され,Nafion/Pt界面は室温で観察された界面と対照的に,水を含むことが分かった。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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燃料電池 

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