特許
J-GLOBAL ID:201903008164048601
銅配線のためのシード層
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
園田・小林特許業務法人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-154364
公開番号(公開出願番号):特開2019-062190
出願日: 2018年08月21日
公開日(公表日): 2019年04月18日
要約:
【課題】改善されたマイグレーション防止特性を有する銅シード層を形成する方法を提供する。【解決手段】方法は、特徴の中にバリア層を形成後第1の銅層を形成すること、特徴の中の第1の銅層の上にルテニウム層を形成すること及び特徴の中のルテニウム層の上に第2の銅層を形成することを含む。ルテニウム層は、特徴の中の所定の場所の下に銅層を実質的に固定し、銅層の物理的なマイグレーションを実質的に防止する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
材料層に形成された開口部を有するパターン形成された表面を備える基板を、第1の処理チャンバ内に配置することと、
前記開口部の壁に第1の銅層を形成すること、前記第1の銅層の上にルテニウム層を形成すること、前記ルテニウム層の上に第2の銅層を形成することを含む、前記開口部の前記壁にシード層を形成することと、
を含む、配線構造を形成する方法。
IPC (3件):
H01L 21/320
, H01L 21/768
, H01L 23/532
FI (1件):
Fターム (23件):
5F033HH07
, 5F033HH11
, 5F033HH12
, 5F033HH18
, 5F033HH19
, 5F033HH22
, 5F033HH23
, 5F033HH32
, 5F033HH33
, 5F033JJ01
, 5F033MM02
, 5F033MM13
, 5F033NN07
, 5F033PP06
, 5F033PP14
, 5F033QQ48
, 5F033RR01
, 5F033RR04
, 5F033RR06
, 5F033RR21
, 5F033WW02
, 5F033XX05
, 5F033XX08
引用特許:
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