特許
J-GLOBAL ID：201903009329965660
検出装置及び検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
蔵田 昌俊
, 野河 信久
, 峰 隆司
, 河野 直樹
, 井上 正
, 鵜飼 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-173329
公開番号（公開出願番号）：特開2019-049453
出願日： 2017年09月08日
公開日（公表日）： 2019年03月28日
要約：
【課題】精度よく被検出物を検出することができる検出装置及び検出方法を提供する。【解決手段】センサにおける電磁波の透過率又は反射率に基づいてサンプルに含まれる被検出物又はサンプルから抽出した特定の被検出物の有無を検出する検出装置は、照射部と、検出部と、制御部と、を備える。制御部は、照射部及び検出部を用いて、サンプルから抽出した特定の被検出物が添加されていないセンサの電磁波のリファレンス透過率又はリファレンス反射率を複数の周波数でそれぞれ測定し、照射部及び検出部を用いて、サンプルから抽出した特定の被検出物が添加されたセンサの電磁波の検出透過率又は検出反射率を複数の周波数でそれぞれ測定し、複数の周波数におけるリファレンス透過率又はリファレンス反射率及び複数の周波数における検出透過率又は検出反射率に基づいて被検出物を検出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
センサにおける電磁波の透過率又は反射率に基づいてサンプルに含まれる被検出物又はサンプルから抽出した特定の被検出物を検出する検出装置であって、
前記センサに電磁波を照射する照射部と、
前記照射部が照射し前記センサを透過した透過波又は前記照射部が照射し前記センサで反射した反射波の強度を検出する検出部と、
前記照射部及び前記検出部を用いて、前記サンプルから抽出した特定の被検出物が添加されていない前記センサの電磁波のリファレンス透過率又はリファレンス反射率を複数の周波数でそれぞれ測定し、
前記照射部及び前記検出部を用いて、前記サンプルから抽出した特定の被検出物が添加された前記センサの電磁波の検出透過率又は検出反射率を前記複数の周波数でそれぞれ測定し、
前記複数の周波数におけるリファレンス透過率又はリファレンス反射率及び前記複数の周波数における検出透過率又は検出反射率に基づいて前記被検出物を検出する、
制御部と、
を備える検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (28件)：
2G059BB08
, 2G059BB12
, 2G059DD01
, 2G059DD12
, 2G059DD13
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059FF08
, 2G059FF12
, 2G059GG09
, 2G059HH01
, 2G059HH05
, 2G059JJ30
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G059MM04
, 2G059MM05
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 2G059PP04
, 2G059PP06
, 2G105AA01
, 2G105BB11
, 2G105CC01
, 2G105CC03
, 2G105DD02
, 2G105EE01
, 2G105HH04
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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