特許
J-GLOBAL ID:201903014067409810

熱電物性測定装置及び熱電物性測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 正林 真之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-142754
公開番号(公開出願番号):特開2019-024044
出願日: 2017年07月24日
公開日(公表日): 2019年02月14日
要約:
【課題】ゼーベック係数Sをより高精度に測定する熱電物性測定装置及び熱電物性測定方法を提供する。【解決手段】本発明の熱電物性測定装置1は、測定対象物12の一端12aと他端12bとの間に電位差VAを加える電源14と、前記一端12aと前記他端12bとの間に温度差を加える温度差発生部16と、前記一端12aと前記他端12bとの間を流れる電流値を測定する電流計13と、前記電源14により前記一端12aと前記他端12bとの間に前記電位差VAを加えたときに、前記電流計13により測定された第1電流値ΔIV、及び、前記温度差発生部16により前記一端12aと前記他端12bとの間に温度差ΔTを加えたときに、前記電流計13により測定された第2電流値IT、を用いてゼーベック係数Sを求める演算部20と、を備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
測定対象物の一端と他端との間に電位差を加える電源と、 前記一端と前記他端との間に温度差を加える温度差発生部と、 前記一端と前記他端との間を流れる電流値を測定する電流計と、 前記電源により前記一端と前記他端との間に前記電位差を加えたときに、前記電流計により測定された第1電流値、及び、前記温度差発生部により前記一端と前記他端との間に温度差を加えたときに、前記電流計により測定された第2電流値、を用いてゼーベック係数を求める演算部と、 を備える熱電物性測定装置。
IPC (2件):
H01L 35/28 ,  G01N 25/00
FI (2件):
H01L35/28 C ,  G01N25/00 B
Fターム (9件):
2G040AB18 ,  2G040BA02 ,  2G040BA25 ,  2G040CA01 ,  2G040CA13 ,  2G040CA22 ,  2G040EB03 ,  2G040EC06 ,  2G040ZA05
引用特許:
審査官引用 (7件)
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