特許
J-GLOBAL ID：201903020558170992

透磁率センサ及び透磁率検出方法

発明者：
大隅 和彦

大隅 和彦 について


出願人/特許権者：
日立金属株式会社

日立金属株式会社 について


代理人 (2件)： 河野 英仁 ,  河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-056878
公開番号（公開出願番号）：特開2019-168354
出願日： 2018年03月23日
公開日（公表日）： 2019年10月03日
要約：
【課題】感度の選択が可能な透磁率センサ、及び、感度の選択が可能な透磁率センサを用いた透磁率検出方法を提供する。【解決手段】被検出物の透磁率を検出する透磁率センサは、複数の感度夫々に対する初期計測時間を記憶する記憶部と、選択信号により選択された感度に対応する初期計測時間を記憶部から読み出し、読み出した初期計測時間を、被検出物から磁気を受ける第1コイルを含む第1発振回路の発振パルス数を計測する第1計測時間、及び被検出物から磁気を受ける第2コイルを含む第2発振回路の発振パルス数を計測する第2計測時間に設定する初期設定部と、第1計測時間で第1発振回路の計測を行って得た発振パルス数、及び、第2計測時間で計測部が第2発振回路の計測を行って得た発振パルス数の差分を算出する算出部と、算出部にて算出した差分を透磁率に変換する変換部とを備える。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
被検出物の透磁率を検出する透磁率センサにおいて、 前記被検出物から磁気を受ける第1コイルを含んで発振する第1発振回路と、 前記被検出物から磁気を受ける第2コイルを含んで発振する第2発振回路と、 前記第1発振回路及び第2発振回路夫々における発振パルス数を計測する計測部と、 複数の感度夫々に対する初期計測時間を記憶する記憶部と、 複数の感度から1つを選択する選択信号を取得し、取得した選択信号により選択された感度に対応する初期計測時間を前記記憶部から読み出し、読み出した初期計測時間を、前記第1発振回路の発振パルス数を計測する第1計測時間、及び前記第2発振回路の発振パルス数を計測する第2計測時間に設定する初期設定部と、 前記第1計測時間で、前記計測部が前記第1発振回路の計測を行って得た発振パルス数、及び、前記第2計測時間で、前記計測部が前記第2発振回路の計測を行って得た発振パルス数の差分を算出する算出部と、 前記算出部にて算出した差分を透磁率に変換する変換部と を備えることを特徴とする透磁率センサ。
IPC (1件)：
G01N 27/72
FI (1件)：
G01N27/72
Fターム (8件)：
2G053AA29 ,  2G053AB07 ,  2G053BA04 ,  2G053CA03 ,  2G053CA18 ,  2G053CB13 ,  2G053DA01 ,  2G053DB01
引用特許：
出願人引用 (4件)
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