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J-GLOBAL ID:202002276224442388   整理番号:20A2235306

化学蒸着によるSiCナノワイヤの堆積速度に及ぼすプロセスパラメータの影響

Effects of Process Parameters on Deposition Rate of SiC Nanowires by Chemical Vapor Deposition
著者 (5件):
資料名:
巻: 53  号:ページ: 273-279(J-STAGE)  発行年: 2020年 
JST資料番号: S0629A  ISSN: 0021-9592  CODEN: JCEJAQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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化学蒸着(CVD)は,炭化ケイ素(SiC)ナノワイヤを調製するための適切な方法である。CVD管中の混合ガス成分の堆積温度,ガス速度,および分布は最終析出速度に影響する主要因子である。堆積温度,MTSのフラックス,混合ガスのフラックスおよびArとH2の比率からなるプロセスパラメータがSiCナノワイヤの堆積速度に及ぼす影響を数値的に計算した。プロセスパラメータは,高い堆積速度SiCナノワイヤを得るために,直交L9(3)4試験による最適化を達成した。SiCナノワイヤの最適堆積速度は,以下の操作条件下で得られた:1473Kの堆積温度,5mL/分のMTSのフラックス,525mL/minの混合ガスのフラックス,およびAr:H2=1:1。二つの計算結果を,対応する実験結果によって検証し,そしてそれは,シミュレーション結果の正確性を顕著に明らかにした。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
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