特許
J-GLOBAL ID:202003000634455306
位置計測システム、及び位置計測方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
松沼 泰史
, 石田 良平
, 服部 映美
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-157772
公開番号(公開出願番号):特開2020-030189
出願日: 2018年08月24日
公開日(公表日): 2020年02月27日
要約:
【課題】処理負荷を抑えつつ、対象物の位置を高精度に計測する。【解決手段】位置計測システムは、対象エリアに波動を照射して、物体からの反射波に基づいて、少なくとも物体までの距離及び方向を含む検出情報を検出する検出装置と、対象エリアを含む画像を撮像する撮像装置と、検出装置が検出した検出情報と、撮像装置が撮像した画像を表す画像情報とを取得して同期させる取得部と、取得部が取得した検出情報に基づく対象エリアにおける物体の位置情報である第1位置情報と、取得部が取得した画像情報に基づく対象エリアにおける物体の位置情報である第2位置情報とを補完して、対象物の位置情報を生成する位置計測部とを備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
対象エリアに波動を照射して、物体からの反射波に基づいて、少なくとも前記物体までの距離及び方向を含む検出情報を検出する検出装置と、
前記対象エリアを含む画像を撮像する撮像装置と、
前記検出装置が検出した前記検出情報と、前記撮像装置が撮像した画像を表す画像情報とを取得して同期させる取得部と、
前記取得部が取得した前記検出情報に基づく前記対象エリアにおける前記物体の位置情報である第1位置情報と、前記取得部が取得した前記画像情報に基づく前記対象エリアにおける前記物体の位置情報である第2位置情報とを補完して、対象物の位置情報を生成する位置計測部と
を備えることを特徴とする位置計測システム。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (14件):
5J084AA02
, 5J084AA04
, 5J084AA05
, 5J084AA10
, 5J084AA13
, 5J084AA14
, 5J084AB07
, 5J084AD01
, 5J084CA31
, 5J084CA49
, 5J084CA70
, 5J084EA04
, 5J084EA11
, 5J084EA23
引用特許: