磁場測定デバイス、磁場測定装置、磁場測定システム及び磁場測定方法

発明者： , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (5件)：狩野芳正 , 工藤実 , 中尾圭策 , 石川太郎 , 塘口絢子
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-011821
公開番号（公開出願番号）：特開2017-133862
特許番号：特許第6731606号
出願日： 2016年01月25日
公開日（公表日）： 2017年08月03日
請求項（抜粋）：

【請求項1】磁気光学効果を発現する磁気転写膜を備える磁気転写素子と、照射光を発生し、前記照射光を発光面から出射する面光源と、前記磁気転写素子と前記面光源の間に挿入された円偏光板とを具備し、前記面光源の前記発光面が前記円偏光板を介して前記磁気転写素子に接合された磁場測定デバイス。

IPC (1件)：