特許

J-GLOBAL ID：202003006460469157

レーザ加工システムのための装置、これを用いたレーザ加工システム、および光学素子の焦点位置を調節する方法

発明者： ティール マルク ,  ラッソード ベンジャミン
出願人/特許権者： プレシテック ゲーエムベーハー ウント ツェーオー カーゲー
代理人 (1件)： 特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-519725
公開番号（公開出願番号）：特表2020-536740
出願日： 2018年10月02日
公開日（公表日）： 2020年12月17日
要約：

発明は、レーザ作業システムのための装置100、600に関し、装置のビーム経路に配置された少なくとも1つの光学素子110、610と、検出器素子の行列を有する1つの温度検出器アセンブリ105、620とを備え、上記温度検出器アセンブリが光学素子110、610の2次元温度分布を測定するように設計される。

請求項（抜粋）：

レーザ加工システムのための装置(100、600)であって、 前記装置のビーム経路に配置された光学素子(110、610)と、 前記光学素子(110、610)の2次元温度分布を測定するように構成された検出器素子の行列を有する温度検出器アレンジメント(115、620)と を備えることを特徴とする装置。

IPC (3件)：

B23K 26/046 ,  G01J 5/48 ,  B23K 26/00

FI (3件)：

B23K26/046 ,  G01J5/48 A ,  B23K26/00 M

Fターム (14件)：

2G066AC20 ,  2G066BA08 ,  2G066BA18 ,  2G066BA22 ,  2G066CA01 ,  2G066CA02 ,  4E168AD07 ,  4E168BA00 ,  4E168CA11 ,  4E168CB12 ,  4E168EA13 ,  4E168EA17 ,  4E168KA17 ,  4E168KB02

引用特許：

審査官引用 (6件)

• レーザ発振装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-101050   出願人：松下電器産業株式会社
• レーザ加工ヘッド
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2011-051153   出願人：日立造船株式会社, 財団法人近畿高エネルギー加工技術研究所
• レンズユニットおよびレーザ加工装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2012-139293   出願人：三菱電機株式会社
• 非回転対称画像誤差の補正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-174612   出願人：カール-ツアイス-スチフツング
• タービンシステム内の温度を測定するシステム及び方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2011-170602   出願人：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
• 電子看板装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2011-181700   出願人：パナソニック株式会社