特許
J-GLOBAL ID:202003007249076854
自動分析装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件):
蔵田 昌俊
, 野河 信久
, 峰 隆司
, 河野 直樹
, 井上 正
, 鵜飼 健
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-031833
公開番号(公開出願番号):特開2017-150871
特許番号:特許第6639945号
出願日: 2016年02月23日
公開日(公表日): 2017年08月31日
請求項(抜粋):
【請求項1】 試料及び試薬を反応容器に分注して、前記反応容器内の試料及び試薬の混合液の測定により分析データを生成する自動分析装置において、
前記試薬を収容する試薬容器が格納される開口部を有する試薬ケースと、前記開口部を開閉自在に覆う試薬カバーとにより構成される試薬庫と、
前記試薬カバーに覆われて前記開口部が閉鎖された前記試薬庫内の空気を撹拌するファンと、
前記ファンに撹拌されている空気中に含まれ、前記試薬庫に格納された前記試薬容器内の試薬に混入して、当該試薬及び前記試料の混合液の測定により生成される分析データを悪化させる影響を当該試薬に与える特定の成分を検出するセンサと、
前記センサにより検出された前記成分の検出信号及び前記成分が検出されたときの時間の情報に基づいて、前記成分から影響を受ける試薬の前記反応容器への分注を停止させる制御部とを
備える自動分析装置。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
出願人引用 (4件)
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-260539
出願人:株式会社東芝, 東芝メディカルシステムズ株式会社
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試料前処理装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-168308
出願人:株式会社島津製作所
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分析装置及び試薬劣化度算出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2013-273328
出願人:株式会社堀場製作所, 株式会社堀場アドバンスドテクノ
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-047033
出願人:株式会社日立ハイテクノロジーズ
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