特許
J-GLOBAL ID:202003009159588913

測量装置及び測量装置の機械高取得方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 三好 祥二
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-072622
公開番号(公開出願番号):特開2017-181427
特許番号:特許第6738634号
出願日: 2016年03月31日
公開日(公表日): 2017年10月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】水平又は水平と見做された設置面に設置された測量装置が整準部と該整準部に設けられた測量装置本体とを具備し、該測量装置本体は測定点を視準する望遠鏡部と、該望遠鏡部に設けられノンプリズム測距が可能な測距部と、前記望遠鏡部を所望の方向に回動させる回転駆動部と、前記測量装置本体の水平角を測定する水平角測定部と、前記望遠鏡部の鉛直角を測定する鉛直角測定部と、制御装置とを具備し、該制御装置は、前記測距部に前記設置面の少なくとも3点の測定点をノンプリズム測距させ、該少なくとも3点の測定点の測距結果と測距時の前記望遠鏡部の鉛直角に基づき前記測量装置本体の傾斜角を演算し、該傾斜角を基に前記整準部に前記測量装置本体を整準させ、該測量装置本体を整準した状態で、前記測距部に前記設置面の少なくとも1点の測定点をノンプリズム測距させ、該少なくとも1点の測定点の測距結果と測距時の前記望遠鏡部の鉛直角を基に、前記測量装置本体の機械高を演算する様構成された測量装置。
IPC (2件):
G01C 5/00 ( 200 6.01) ,  G01C 15/00 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01C 5/00 Z ,  G01C 15/00 103 A
引用特許:
審査官引用 (8件)
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