特許
J-GLOBAL ID：202003014601989420

磁性金属異物検出装置

発明者：
田中 三郎

田中 三郎 について

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鈴木 周一

鈴木 周一 について

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岡村 静致

岡村 静致 について


出願人/特許権者：
国立大学法人豊橋技術科学大学

国立大学法人豊橋技術科学大学 について

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グラフテック株式会社

グラフテック株式会社 について


代理人 (2件)： 秋山 敦 ,  城田 百合子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-160699
公開番号（公開出願番号）：特開2020-034400
出願日： 2018年08月29日
公開日（公表日）： 2020年03月05日
要約：
【課題】フィルムやシートの形態の被検査物に含まれる微細な磁性金属異物を、高速かつ、確実に検出して排除可能な磁性金属異物検査装置を提供する。【解決手段】一方向に搬送されるシート状またはフィルム状の被検査物Fに含まれる磁性金属異物Xを検出する磁性金属異物検出装置1であって、磁性金属異物Xを帯磁させる帯磁部20と、帯磁部20で帯磁された磁性金属異物Xからの磁気を測定する磁気センサFGと、被検査物Fを一方向とは異なる方向に案内する案内部材10,22,30と、を有し、磁気センサFGは、異なる方向に案内された被検査物Fに含まれる磁性金属異物Xの磁気を測定する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
一方向に搬送されるシート状またはフィルム状の被検査物に含まれる磁性金属異物を検出する磁性金属異物検出装置であって、 前記磁性金属異物を帯磁させる帯磁部と、 該帯磁部で帯磁された前記磁性金属異物からの磁気を測定する磁気センサと、 前記被検査物を前記一方向とは異なる方向に案内する案内部材と、を有し、 前記磁気センサは、前記異なる方向に案内された前記被検査物に含まれる前記磁性金属異物の磁気を測定することを特徴とする磁性金属異物検出装置。
IPC (1件)：
G01N 27/72
FI (1件)：
G01N27/72
Fターム (12件)：
2G053AA13 ,  2G053AB22 ,  2G053BA03 ,  2G053BB03 ,  2G053BC20 ,  2G053CA03 ,  2G053CB10 ,  2G053CB24 ,  2G053DA01 ,  2G053DA10 ,  2G053DB02 ,  2G053DB11
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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引用文献：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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