特許
J-GLOBAL ID：202003017777164345

微粒子検知装置

発明者：
小原 弘士

小原 弘士 について


出願人/特許権者：
パナソニックIPマネジメント株式会社

パナソニックIPマネジメント株式会社 について


代理人 (2件)： 鎌田 健司 ,  野村 幸一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-076261
公開番号（公開出願番号）：特開2017-187381
特許番号：特許第6738993号
出願日： 2016年04月06日
公開日（公表日）： 2017年10月12日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 投光部と受光部とを備え前記受光部に入射する光の強度に基づいて粒子を測定する微粒子検知装置であって、 前記受光部に入射する光を強度に応じて電圧値に変換して出力する電圧変換部と、 電圧閾値Aと前記電圧閾値Aよりも小さい電圧閾値Bとを記憶する電圧閾値記憶手段と、所定の単位時間における前記電圧値の変動を示す電圧波形データにおいて前記電圧閾値Aを超えた範囲に存在する波形のピーク数をカウントする第一カウント手段と、 前記電圧波形データにおいて前記電圧閾値Aと前記電圧閾値Bとの間の範囲に存在する波形のピーク数をカウントする第二カウント手段と、 前記電圧波形データにおいて前記電圧閾値Aと前記電圧閾値Bとの間の範囲にピークを有する波形の前記電圧閾値Bを超えた時間を積算する積算手段と、 前記第一カウント手段がカウントした値と前記第二カウント手段がカウントした値と前記積算手段が積算した時間とに基づいて前記電圧閾値Aに対応する粒子径より大きいサイズを有する粒子の有無を予測する演算手段と、 を備えた微粒子検知装置。
IPC (1件)：
G01N 15/02 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01N 15/02 A
引用特許：
出願人引用 (9件)
全件表示
審査官引用 (10件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM