光ファイバセンシングシステム、損傷監視方法、及び損傷箇所画像化方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：西澤和純 , 川渕健一 , 鈴木史朗 , 田中紀央
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2019-197840
公開番号（公開出願番号）：特開2021-071369
出願日： 2019年10月30日
公開日（公表日）： 2021年05月06日
要約：

【課題】200°C〜800°Cの高温環境下でも超音波を測定することが可能であり、かつ、微視的な損傷箇所を検出することが可能なファイバブラッググレーティングを用いた光ファイバセンシングシステムを提供する。【解決手段】本実施形態に係る光ファイバセンシングシステムは、超音波励起部30と、超音波計測部40と、超音波データ処理部50と、を備える光ファイバセンシングシステムであって、超音波計測部40は、入射レーザ光源1と、分光用サーキュレータ2と、超音波検出センサ3と、光検出器4と、を備え、超音波検出センサ3は、2つ以上のファイバブラッググレーティング22を備える超音波検出用光ファイバ23と2つ以上の超音波伝達部21と、を備え、超音波伝達部21とファイバブラッググレーティング22とが接触していない。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

超音波を励起する超音波励起部と、超音波を計測し、超音波データを得る超音波計測部と、前記超音波データを処理する超音波データ処理部とを備える光ファイバセンシングシステムであって、前記超音波計測部は、入射光を照射する入射レーザ光源と、第1の光ファイバを介して前記入射レーザ光源と接続され、入射光と反射光とを分ける分光用サーキュレータと、前記分光用サーキュレータと接続され、前記入射光に対し、前記超音波に応じて変化する前記反射光を前記分光用サーキュレータに送る超音波検出センサと、前記分光用サーキュレータと第2の光ファイバを介して接続され、前記分光用サーキュレータから送られた前記反射光を電気信号に変換する光検出器と、を備え、前記超音波検出センサは、 2つ以上のファイバブラッググレーティングを備える超音波検出用光ファイバと、前記ファイバブラッググレーティングに超音波を伝達する2つ以上の超音波伝達部と、を備え、前記超音波伝達部と前記ファイバブラッググレーティングとが接触していない光ファイバセンシングシステム。

IPC (4件)：

G01N 29/24 , G01N 29/04 , G01N 29/44 , G01K 11/320

FI (4件)：

G01N29/24 , G01N29/04 , G01N29/44 , G01K11/32 D

Fターム (19件)：

2F056VF02 , 2F056VF11 , 2F056VF16 , 2G047AA05 , 2G047AC06 , 2G047BC02 , 2G047BC03 , 2G047BC07 , 2G047CA01 , 2G047CA04 , 2G047CA07 , 2G047CB04 , 2G047GD01 , 2G047GG06 , 2G047GG20 , 2G047GG33 , 2G047GG36 , 2G047GG43 , 2G047GH06

引用特許：

審査官引用 (6件)

材料健全性評価装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-066290 出願人：独立行政法人産業技術総合研究所
超音波検査システム
公報種別：公開公報出願番号：特願2009-191989 出願人：株式会社豊田中央研究所
損傷探知システム
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-050481 出願人：富士重工業株式会社, 日立電線株式会社, 国立大学法人東京大学

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引用文献：

審査官引用 (1件)

高温で計測可能な光ファイバ超音波センサの構築

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