特許
J-GLOBAL ID：202103017564430120

疲労限度特定装置および疲労限度特定方法

発明者：
赤井 淳嗣

赤井 淳嗣 について

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小島 由梨

小島 由梨 について

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佐藤 康元

佐藤 康元 について

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大久保 勇佐

大久保 勇佐 について


出願人/特許権者：
株式会社豊田中央研究所

株式会社豊田中央研究所 について

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株式会社ジェイテクト

株式会社ジェイテクト について


代理人 (1件)： 特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-099266
公開番号（公開出願番号）：特開2021-193341
出願日： 2020年06月08日
公開日（公表日）： 2021年12月23日
要約：
【課題】材料の疲労限度を簡易に特定する。【解決手段】疲労試験機14により試験片10に対して、所定周波数で、段階的に増加する繰返し荷重を加える。温度測定装置16により試験片の温度を測定し、温度の変動波形を取得する。変動波形に基づき、変動波形の二次高調波の振幅および変動波形の基本波に対する二次高調波の位相ずれを算出する。また、前記の位相ずれであって、疲労限度より十分小さい繰返し荷重における小荷重時位相ずれと、疲労限度より十分大きな繰返し荷重における大荷重時位相ずれを取得する。二次高調波の振幅と、小荷重時位相ずれと、大荷重時位相ずれとに基づき、繰返し荷重の荷重値ごとに、変動波形の疲労損傷に関係する二次高調波の振幅である疲労関連振幅を算出し、疲労関連振幅に基づき疲労限度を特定する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
試験片に対して、所定周波数で、段階的に増加する繰返し荷重を加える疲労試験機と、 前記試験片の温度を測定する温度測定装置と、 前記試験片の測定された前記温度に基づき疲労限度を求める情報処理装置と、 を備え、 前記情報処理装置は、 測定された前記温度の変動波形に基づき、前記繰返し荷重の荷重値ごとに、前記変動波形の二次高調波の振幅、および前記変動波形の基本波に対する二次高調波の位相ずれを算出し、 前記位相ずれであって、疲労限度より十分小さい前記繰返し荷重における小荷重時位相ずれと、疲労限度より十分大きな前記繰返し荷重における大荷重時位相ずれを取得し、 前記二次高調波の振幅と、前記小荷重時位相ずれと、前記大荷重時位相ずれとに基づき、前記繰返し荷重の荷重値ごとに、前記変動波形の疲労損傷に関係する二次高調波の振幅である疲労関連振幅を算出し、 前記疲労関連振幅に基づき疲労限度を特定する、 ように構成されている、 疲労限度特定装置。
IPC (2件)：
G01N 3/34 ,  G01N 3/06
FI (2件)：
G01N3/34 A ,  G01N3/06
Fターム (12件)：
2G061AA01 ,  2G061AA02 ,  2G061AB05 ,  2G061BA02 ,  2G061CB01 ,  2G061DA01 ,  2G061EA01 ,  2G061EA03 ,  2G061EA06 ,  2G061EA07 ,  2G061EB07 ,  2G061EC02
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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引用文献：
出願人引用 (2件)
  • 「Accuracy improvement in dissipated energy measurement by using phase information」
  • 「温度変動に基づく疲労限度迅速推定法に関する研究(温度の第二高調波の発生原因)」

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