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体系的課題番号：JPMJSN04AC
実施期間：2004 - 2008
実施機関 (1件)：
企業責任者：
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJSN04AC
研究概要：
研究所管機関：
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実施期間：2004 - 2008
実施機関 (1件)：
(株)テクノエックス
(株)テクノエックス について
企業責任者：
(株)テクノエックス
(株)テクノエックス について
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJSN04AC
研究概要：
マイクロX線ビーム励起を用いた蛍光X線分析法を構築し、1粒子の計測可能サイズをΦ50nm以上、かつその定量値下限をfg(10-15g/粒子)とすることができる大気浮遊粒子等の1粒子測定用蛍光X線分析装置を開発します。極微少量環境物質である宇宙塵や大気浮遊粒子の1粒子の形状とその構成成分を、前処理なしで直接かつ多成分の同時定量を可能とし、環境分野で強く要望されている先端計測機器の実現を可能とします。
タイトルに関連する用語 (3件)：
研究制度： タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した研究課題タイトルの用語をもとにしたキーワードです
J-GLOBALで独自に切り出した研究課題タイトルの用語をもとにしたキーワードです
大気浮遊粒子
, 大気浮遊粒子 について
蛍光X線分析装置
, 蛍光X線分析装置 について
開発
開発 について
産学が連携した研究開発成果の展開
＞ 産学が連携した研究開発成果の展開 について
研究成果展開事業
＞ 研究成果展開事業 について
先端計測分析技術・機器開発プログラム
＞ 先端計測分析技術・機器開発プログラム について
一般領域
＞ 一般領域 について
機器開発タイプ
機器開発タイプ について
研究所管機関：
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