研課題
J-GLOBAL ID：202104012383242935
研究課題コード：07052629 反応現象のX線ピンポイント構造計測
実施期間：2004 - 2009
実施機関 (1件)：
高輝度光科学研究センター
高輝度光科学研究センター について
研究代表者：
高田 昌樹
(
高輝度光科学研究センター
, 利用研究促進部門 I, 主席研究員 )
高輝度光科学研究センター について
DOI： https://doi.org/10.52926/JPMJCR0404
研究概要：
ナノ物質・材料の研究・開発分野では、デバイスの動作状態でのその場観察を含め、様々な環境下において、光・電場・磁場等の外場に対する微小材料や薄膜材料の動的応答の構造評価技術の重要性が高まっています。本研究では、これらの評価技術を実現するため、第三世代放射光SPring-8を用い、極短時間(ps)、極小空間(nm)という極限環境での構造解析装置の開発を目指します。また、この「X線ピンポイント構造計測」技術を用いて、新原理・新現象を探索し、その有用性を実証します。
タイトルに関連する用語 (3件)：
研究制度： タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した研究課題タイトルの用語をもとにしたキーワードです
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現象
, 現象 について
X線
, X線 について
計測
計測 について
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