特許
J-GLOBAL ID：202203014705243688
時系列データ評価装置及び時系列データ評価用プログラム
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (3件)：
松浦 孝
, 本田 崇
, 小倉 洋樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-110907
公開番号（公開出願番号）：特開2022-007775
出願日： 2020年06月26日
公開日（公表日）： 2022年01月13日
要約：
【課題】分割数mや細分割数Mの大小に関わりなく、精度良く時系列データ評価を行うことが可能な時系列データ評価装置を提供する。
【解決手段】時系列データの区間Iをm個の区間に等分割し、更にM等分した細分割区間X
j
を有するデータに関し、外測度、同時外測度、内測度、同時内測度を求める外測度・内測度算出手段201と、データ密度一定の一定密度同時外測度、i固定の外測度全度数、データ密度一定の一定密度同時内測度、i固定の内測度全度数、を求める一定密度情報算出手段202と、外測度確率分布、データ密度一定の外測度条件付確率分布、内測度確率分布、データ密度一定の内測度条件付確率分布、を求める確率分布算出手段203と、外測度データ評価値、内測度データ評価値を求める外測度・内測度評価値算出手段204と、前記時系列データ全体の評価値を算出する時系列データ評価値算出手段205とを具備する。
【選択図】図5
請求項（抜粋）：
nを正の整数として、データ長がn+1の時系列データ{ξ
0
,ξ
2
,ξ
3
,・・・,ξ
n
}が、写像τによりξ
k
=τ(ξ
k-1
)=τ
k
(ξ
0
),k=1,2,・・・,nとして生成されるとき、ξ
k
が含まれる区間Iをm個の区間に等分割した分割区間X
i
(i=1,2,・・・,m)について、各分割区間を更にM等分した細分割区間X
j
を有するデータに関し、外測度と同時外測度を求めると共に内測度と同時内測度を求める外測度・内測度算出手段と、
前記外測度と前記同時外測度に基づき、データ密度を一定としたときの一定密度同時外測度及びi固定の外測度全度数を求めると共に、前記内測度と前記同時内測度に基づき、データ密度を一定としたときの一定密度同時内測度及びi固定の内測度全度数を求める一定密度情報算出手段と、
前記一定密度同時外測度及び前記i固定の外測度全度数に基づき、外測度に関する外測度確率分布とデータ密度を一定とした場合の外測度条件付確率分布を求めると共に、前記一定密度同時内測度及び前記i固定の内測度全度数に基づき、内測度に関する内測度確率分布とデータ密度を一定とした場合の内測度条件付確率分布を求める確率分布算出手段と、
前記外測度確率分布と前記外測度条件付確率分布に基づき外測度に関する外測度データ評価値を求めると共に、前記内測度確率分布と前記内測度条件付確率分布に基づき内測度に関する内測度データ評価値を求める外測度・内測度評価値算出手段と、
前記外測度データ評価値と前記内測度データ評価値に基づき前記時系列データ全体の評価値を算出する時系列データ評価値算出手段と
を具備することを特徴とする時系列データ評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
前のページに戻る
