特許
J-GLOBAL ID：202203016362159611
測量システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三好 祥二
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-118883
公開番号（公開出願番号）：特開2021-043217
特許番号：特許第7001800号
出願日： 2016年06月15日
公開日（公表日）： 2021年03月18日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 トータルステーションユニットと、レーザスキャナユニットと、演算制御部とを具備する測量システムであって、前記トータルステーションユニットは、水平回転可能な托架部と、該托架部に鉛直回転可能に設けられた望遠鏡部と、前記托架部の水平角を検出する水平角検出器と、前記望遠鏡部の鉛直角を検出する鉛直角検出器と、前記望遠鏡部に収納されたトータルステーション測距部と、トータルステーション演算制御部とを具備し、前記レーザスキャナユニットは、前記托架部の上面に設けられ、レーザ光線を鉛直方向に回転照射して点群データを取得する様構成され、前記トータルステーションユニットが撮像部を具備し、該撮像部が測定対象物を含む画像を取得し、前記測定対象物の特定点が前記画像から抽出され、前記演算制御部は、前記托架部の水平回転と前記レーザスキャナユニットによるレーザ光線の回転照射の協働により、前記測定対象物全体の前記点群データを取得し、前記演算制御部は、前記画像に前記点群データを重合させ前記測定対象物と前記点群データとの関連付けを行い、前記トータルステーションユニットにより前記特定点を測定し、該特定点の前記トータルステーションユニットの測距結果と前記レーザスキャナユニットの測距結果とを比較し、比較結果に基づき前記点群データを補正し、補正後の点群データと前記画像とを再度重合させ、測設作業用の3次元データを有する画像を作成する様構成した測量システム。
IPC (2件)：
G01C 15/00 ( 200 6.01)
, G01C 3/06 ( 200 6.01)
G01C 15/00 103 A
, G01C 15/00 103 E
, G01C 3/06 120 Q
, G01C 3/06 140
