特許
J-GLOBAL ID：202303011647716854
分析装置および分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
弁理士法人日峯国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2022-027118
公開番号（公開出願番号）：特開2023-123194
出願日： 2022年02月24日
公開日（公表日）： 2023年09月05日
要約：
【課題】同一対象に関し、一度に瞬時にDLSとSLSの測定が可能な分析装置および分析方法の提供。
【解決手段】前記光源110が発生した光に基づき、前記サンプル154内に焦点を形成する光照射部140と、サンプル154内の前記焦点が形成された分析微小領域156から小角散乱光160を受け、平行小角散乱光168を発生する平行散乱光変換部170と、前記平行小角散乱光168に基づき前記サンプル154からの前記小角散乱光160を計測する散乱光検出部200と、前記散乱光検出部200の計測結果に基づき前記サンプル154の解析を行う、記憶装置290を有する解析部250を有し、前記散乱光検出部200は、前記小角散乱光160を計測し、前記解析部250が前記計測結果に基づき、前記動的散乱光成分と前記静的散乱光成分の両方を解析する、分析装置および分析方法。
【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
サンプルの計測のために使用する光を発生する光源と、
前記光源が発生した光に基づき、前記サンプル内に焦点を形成する照射光を前記サンプルに照射する光照射部と、
前記照射光の前記焦点が形成された領域である分析微小領域において発生した前方あるいは後方の小角散乱光を受け、平行小角散乱光を発生する平行散乱光変換部と、
前記平行小角散乱光に基づき前記サンプルからの前記小角散乱光の状態を計測するための散乱光検出部と、
前記散乱光検出部の計測結果に基づき前記サンプルの解析を行う、記憶装置を備えた、解析部と、を有し、
前記解析部は、前記散乱光検出部の前記計測結果を、繰り返し前記記憶装置に記憶し、
前記解析部は、前記記憶装置に記憶された、前記散乱光検出部の前記計測結果に基づき、動的散乱光成分あるいは静的散乱光成分、または前記動的散乱光成分と前記静的散乱光成分の両方を解析して、前記サンプルの前記分析微小領域に関する分析を行うことを特徴とする、分析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (17件)：
2G059AA01
, 2G059BB04
, 2G059BB09
, 2G059BB12
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059FF01
, 2G059FF03
, 2G059FF04
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG06
, 2G059KK01
, 2G059KK04
, 2G059LL01
, 2G059MM01
, 2G059MM10
出願人引用 (8件)
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特許第5883233号公報
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特許第6757964号公報
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粒子特性測定装置
公報種別：公表公報
出願番号：特願2019-519749
出願人：マルバーンパナリティカルリミテッド
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審査官引用 (5件)
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