粒子特性評価方法及び装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：名古屋国際特許業務法人
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-512715
公開番号（公開出願番号）：特表2017-530347
出願日： 2015年09月07日
公開日（公表日）： 2017年10月12日
要約：

試料(150)を保持するための試料セル(110)と、試料セル(110)内の試料(150)を照射するための光ビーム(106)を発生し、それにより光ビーム(106)の試料(150)との相互作用により散乱光を発生する光源(302)と、試料(150)内の光ビーム(106)を集束させるための焦点レンズ(130)と、試料(150)内の集束した光ビーム(106)と交差する検出光路(108)に沿った後方散乱光を検出するための検出器(306)と、を備える粒子特性評価装置(300)が開示される。光ビーム(106)と試料内の検出光路(108)との交点は検出領域(120)を形成する。前記装置は検出領域(120)のボリュームを変えるための光学配置を備える。

請求項（抜粋）：

試料を保持するための試料セル、及び前記試料セル内の前記試料を照射するための光ビームを発生し、それにより前記光ビームの前記試料との相互作用により散乱光を発生する光源と、前記試料内の前記光ビームを集束させるための焦点レンズと、前記試料内の集束した光ビームと交差する検出光路に沿った前記散乱光を検出するための検出器であって、前記集束した光ビームと前記試料内の前記検出光路の前記交点とは検出領域を形成する、検出器と、を備える粒子特性評価装置であって、前記試料内の検出領域の位置を変えるように前記焦点レンズの移動により前記光ビームの焦点面の場所と前記試料内の検出光路とを変えるように、前記装置は前記検出領域のボリュームを変えるための光学配置を備え且つ前記焦点レンズは移動可能である、粒子特性評価装置。

IPC (2件)：

G01N 15/02 , G01N 15/06

FI (2件)：

G01N15/02 A , G01N15/06 C

引用特許：

審査官引用 (15件)

分析システム
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-243288 出願人：シスメックス株式会社
レーザシステム
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-010750 出願人：ルモニクスリミテッド
特開昭61-167838

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