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J-GLOBAL ID：202402247989731296   整理番号：24A1060872

小角X線散乱と超小角X線散乱における窓からの二次散乱寄与に対する補正手順【JST機械翻訳】

A correction procedure for secondary scattering contributions from windows in small-angle X-ray scattering and ultra-small-angle X-ray scattering

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著者 (2件)： Chevremont William (ESRF - The European Synchrotron, 71 Avenue des Martyrs, Grenoble, 38043, France) ,  Narayanan Theyencheri (ESRF - The European Synchrotron, 71 Avenue des Martyrs, Grenoble, 38043, France)
資料名： Journal of Applied Crystallography  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 57  号： 2  ページ： 440-445  発行年： 2024年 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,測定した小角X線散乱パターンへの間接的バックグラウンド寄与を除去するための補正手順を記述した。超小角領域における試料の高い散乱パワーは,検出器の前に置いた窓の二次光源として役立つ。得られた二次散乱は,直接引き算できない測定パターンの試料依存バックグラウンドとして現れた。これは超低角度での測定における複雑な問題であり,検出の有用なダイナミックレンジを著しく低減できる。試料の実際の散乱プロファイルを検索するための2つの異なる手順を示した。Copyright 2024 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST機械翻訳】

シソーラス用語： 光源 ,  *散乱 ,  バックグラウンド ,  計測 ,  検出器 ,  ダイナミックレンジ ,  減算 ,  *小角X線散乱 ,  *超小角X線散乱

著者キーワード (6件)： 二次散乱 ,  SAXS ,  小角X線散乱 ,  USAXS ,  超小角X線散乱 ,  サンプル依存背景

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 小角X線散乱 ,  超小角X線散乱 ,  窓 ,  散乱 ,  手順

ライセンス情報：
© 2024 William Chèvremont & Narayanan. Journal of Applied Crystallography published by IUCr Journals.