Rchr
J-GLOBAL ID:201401042639579150
Update date: Sep. 12, 2022
Masayoshi Yoshimura
ヨシムラ マサヨシ | Masayoshi Yoshimura
Affiliation and department:
Research field (2):
Information networks
, Computer systems
Research keywords (5):
安全・安心
, 高信頼化技術
, ディペンダブルコンピューティング
, 設計自動化技術
, LSI
Research theme for competitive and other funds (3):
- 2015 - 製造過程でのトロイ回路混入を検知するLSI設計技術に関する研究
- 2007 - 2013 統合的高信頼化設計のためのモデル化と検出・訂正・回復技術
- 2013 - 秘密情報の秘匿性と製造検査容易性の両立をはかるLSI設計手法の開発
MISC (10):
-
Hiroshi Yamazaki, Motohiro Wakazono, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura. A Test Compaction Oriented Don't Care Identification Method Based on X-bit Distribution. IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS. 2013. E96D. 9. 1994-2002
-
吉村正義. スキャンベース攻撃への対策. 日本信頼性学会誌. 2013. 35. 8. 496
-
堀洋平, 鈴木大輔, 吉村正義, 吉川雅弥, 藤野毅. セキュリティLSIに対するタンパリングの手法. 日本信頼性学会誌. 2013. 35. 8. 492
-
安浦寛人, 松永裕介, 吉村正義, 杉原真. 設計自動化技術. 日本信頼性学会誌. 2013. 25. 8. 430
-
Takata Taiga, Yoshimura Masayoshi, Matsunaga Yusuke. Efficient Fault Simulation Algorithms for Analyzing Soft Error Propagation in Sequential Circuits. IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology. 2013. 6. August issue. 127-134
more...
Lectures and oral presentations (21):
-
スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法
(ディペンダブルコンピューティング研究会 2015)
-
信号非遷移情報に基づくトロイ回路検出法
(ディペンダブルコンピューティング研究会 2015)
-
A Multi Cycle Capture Test Generation Method for Low Capture Power Dissipation
(Designing with Uncertainty - Opportunities & Challenges 2015)
-
A Multi Cycle Capture Test Generation Method for Low Capture Power Dissipation
(Designing with Uncertainty - Opportunities & Challenges 2015)
-
キャプチャ消費電力削減のためのマルチサイクルキャプチャテスト生成法
(ディペンダブルコンピューティング研究会 2014)
more...
Education (2):
- - 2003 Osaka University
- - 1996 Osaka University School of Engineering Science Direct Affiliates
Professional career (2):
- 修士(工学) (0292)
- 博士(工学) (0292)
Work history (4):
- 2007 - 2014 Kyushu University Faculty of Information Science and Electrical Engineering
- 2014 - - 京都産業大学 コンピュータ理工学部 准教授
- 2004 - 2007 福岡県産業・科学技術振興財団 福岡知的クラスター研究所 研究員
- 1998 - 2004 松下電器産業(株)
Committee career (3):
- 2016 - Registration Chair: 25th Asian Test Symosium (ATS'16)
- 2012 - Finance chair: IEEE 13th Workshop on RTL and High Level Testing ( WRTLT'12)
- 2008 - - 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究会, 専門委員
Return to Previous Page