アドレス線のテスト方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：平戸哲夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999013683
Publication number (International publication number)：2000215077
Application date： Jan. 22, 1999
Publication date： Aug. 04, 2000
Summary：

【要約】【課題】プリント配線板に形成されているメモリデバイス用のアドレス線をテストするアドレス線のテスト方法に関し、テスト時間の短縮化と、故障個所の発見の容易化とを図ることができるようにする。【解決手段】アドレス線10-0をテストする場合、まず、アドレス[A0A1A2・・・An]=[000・・・0]とし、メモリデバイス8に対する“0”の書込みを行い、次に、アドレス[A0A1A2・・・An]=[100・・・0]とし、メモリデバイス8に対する“1”の書込みを行い、そして、アドレス[A0A1A2・・・An]=[000・・・0]とし、メモリデバイス8からデータの読出しを行い、出力データDOUTの論理値をチェックする。

Claim (excerpt)：

メモリデバイスが実装されたプリント配線板に形成されている前記メモリデバイス用のアドレス線をテストするアドレス線のテスト方法であって、全てのアドレス線にアドレス線間ショート時に強い信号論理となる信号論理を設定し、前記メモリデバイスに第1のデータを書き込む第1の工程と、テスト対象アドレス線にアドレス線間ショート時に弱い信号論理となる信号論理を設定すると共に、その他のアドレス線にアドレス線間ショート時に強い信号論理となる信号論理を設定し、前記メモリデバイスに前記第1のデータとは異なる第2のデータを書き込む第2の工程と、全てのアドレス線にアドレス線間ショート時に強い信号論理となる信号論理を設定し、前記メモリデバイスからデータを読み出す第3の工程とを順に実行する工程を含んでいることを特徴とするアドレス線のテスト方法。

IPC (4)：

G06F 11/22 310 , G01R 31/02 , G01R 31/28 , G11C 29/00 651

FI (5)：

G06F 11/22 310 M , G01R 31/02 , G11C 29/00 651 Z , G01R 31/28 B , G01R 31/28 G

F-Term (24)：

2G014AA02 , 2G014AA03 , 2G014AB59 , 2G014AC09 , 2G032AA07 , 2G032AC10 , 2G032AD08 , 2G032AG01 , 2G032AH07 , 2G032AK04 , 2G032AK14 , 2G032AK16 , 2G032AL00 , 5B048AA22 , 5B048CC18 , 5B048DD05 , 5B048EE07 , 5L106AA01 , 5L106DD22 , 5L106DD23 , 9A001BB03 , 9A001HH34 , 9A001KK54 , 9A001LL05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

プロセッサとRAMを有する装置のテスト方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-027277 Applicant：株式会社ニコン
メモリアドレス線異常検出方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-003811 Applicant：日立工機株式会社
マイクロコンピュータに於けるRAMアドレス・バスの結線テスト方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-286674 Applicant：アマノ株式会社

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