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J-GLOBAL ID：200902166510001564   Reference number：00A0582813

Determination of the Polarities of ZnO Thin Films on Polar and Nonpolar Substrates Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy.

走査非線形誘電顕微鏡を用いた極性及び非極性基板上のZnO薄膜の極性の決定

Author (4)： KAZUTA S (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  CHO Y (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  ODAGAWA H (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  KADOTA M (Murata Mfg. Co., Ltd., Kyoto, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Brief Communications & Review Papers)
Volume： 39  Issue： 5B  Page： 3121-3124  Publication year： May. 30, 2000 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *zinc oxide ,...

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JST classification (2)： Oxide thin films  (BK14050P) ,  Measuring techniques and equipments of dielectric properties  (BM05020Q)

Reference (12)：

• 1) K. Nakamura and T. Hanaoka: Jpn. J. Appl. Phys. 32 (1993) 2333.
• 2) Y. Cho, A. Kirihara and T. Saeki: Rev. Sci. Instrum. 67 (1996) 2297.
• 3) Y. Cho, A. Kirihara and T. Saeki: Jpn. J. Appl. Phys. 36 (1997) 360.
• 4) Y. Cho, S. Atsumi and K. Nakamura: Jpn. J. Appl. Phys. 36 (1997) 3152.
• 5) Y. Cho, K. Matsuura and J. Kushibiki: Jpn. J. Appl. Phys. 37 (1998) 3132.

Terms in the title (6)： 走査 ,  非線形 ,  顕微鏡 ,  極性 ,  非極性 ,  ZnO薄膜