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J-GLOBAL ID：200902178702130820   Reference number：02A0624283

X-ray Diffraction Measurement below 1 K.

1K以下におけるX線回折測定

Author (6)： SUZUKI H (Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN) ,  NAHER S (Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN) ,  SHIMOGUCHI T (Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN) ,  MIZUNO M (Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN) ,  RYU A (Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN) ,  FUJISHITA H (Kanazawa Univ., Kanazawa, JPN)
Material： Journal of Low Temperature Physics
Volume： 128  Issue： 1-2  Page： 1-7  Publication year： Jul. 2002 
JST Material Number： E0115C  ISSN： 0022-2291  CODEN： JLTPAC  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *dilution refrigerator ,...
Semi thesaurus term： Jahn-Telle transition

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JST classification (3)： X-ray diffraction methods  (BK01020I) ,  Crystal structure of inorganic compounds in general  (BK07001T) ,  Low-temperature production and techniques  (BA02040H)

Terms in the title (1)： X線回折