1K以下におけるX線回折測定

SUZUKI H; NAHER S; SHIMOGUCHI T; MIZUNO M; RYU A; FUJISHITA H

文献

J-GLOBAL ID：200902178702130820 整理番号：02A0624283

1K以下におけるX線回折測定

X-ray Diffraction Measurement below 1 K.

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資料名：
巻： 128 号： 1-2 ページ： 1-7 発行年： 2002年07月
JST資料番号： E0115C ISSN： 0022-2291 CODEN： JLTPAC 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

T_c=2.15Kにおいて正方-結晶相転...

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X線回折法 , 無機化合物の結晶構造一般 , 低温技術

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