Art

J-GLOBAL ID：200902299248159496   Reference number：09A0197694

Estimation of current vector distribution of polycrystalline solar cell by laser-SQUID microscope

Laser-SQUID顕微鏡を用いた多結晶太陽電池の電流ベクトル分布推定

Author (5)： NAKATANI YOSHIHIRO (大阪大 大学院基礎工学研究科) ,  KONG Xiangyan (大阪大 大学院基礎工学研究科) ,  MAKI TETSURO (大阪大 大学院基礎工学研究科) ,  HAYASHI TADAYUKI (仙台電波工高専) ,  ITOZAKI HIDEO (大阪大 大学院基礎工学研究科)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
Volume： 108  Issue： 420(SCE2008 32-39)  Page： 31-34  Publication year： Jan. 22, 2009 
JST Material Number： S0532B  ISSN： 0913-5685  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *scanning probe microscope ,  *solar cell ,  *electric current ,  laser ,  polycrystal ,  current distribution ,  *model ,  magnetic field measurement ,  *SQUID microscope
Semi thesaurus term： *電流ベクトル ,  *estimation model

JST classification (1)： Solar cell  (NC03084O)

Reference (10)：

• KIRTLEY, J. R. High-resolution scanning SQUID microscope. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 9, 1138-1140
• CHATRAPHORN, S. Scanning SQUID microscopy of integrated circuits. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 16, 2304-2306
• BEYER, J. Magnetic detection of photogenerated currents in semiconductor wafers using superconducting quantum interference devices. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 19, 2863-2865
• DAIBO, M. Photo-induced magnetic field imaging of p-n junction using a laser SQUID microscope. Physica C. 2001, 357-360, 1483-1487
• BEYER, J. Noninvasive investigation of defects in multicrystalline silicon and photovoltaic devices by photomagnetic detection using superconducting quantum interference device magnetometers. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 19, 3107-3109

Terms in the title (6)： LASER ,  SQUID顕微鏡 ,  多結晶 ,  太陽電池 ,  ベクトル ,  分布推定