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J-GLOBAL ID:200903000132262611
レーザ光による成分分析方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
光石 俊郎
, 光石 忠敬
, 田中 康幸
, 松元 洋
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002299878
Publication number (International publication number):2004132919
Application date: Oct. 15, 2002
Publication date: Apr. 30, 2004
Summary:
【課題】各種成分組成を迅速に計測するレーザ光による成分分析方法を提供することを課題とする。【解決手段】レーザ光による成分分析方法は、被測定物にレーザ光を照射してその組成成分をプラズマ化し、該プラズマから発生するプラズマ光を分光器に入射し、分光器にて分光したスペクトル光から成分を分析するレーザ光による成分分析方法において、組成成分から特定の一の基準元素を選定し、各組成のスペクトルから基準元素と各成分との相対比を計測する。【選択図】 なし
Claim (excerpt):
被測定物にレーザ光を照射してその組成成分をプラズマ化し、該プラズマから発生するプラズマ光を分光器に入射し、分光器にて分光したスペクトル光から成分を分析するレーザ光による成分分析方法において、
組成成分から特定の一の基準元素を選定し、
基準元素と各成分との相対比を計測することを特徴とするレーザ光による成分分析方法。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (20):
2G043AA01
, 2G043BA01
, 2G043BA07
, 2G043CA01
, 2G043CA03
, 2G043CA05
, 2G043EA10
, 2G043FA03
, 2G043GA25
, 2G043GB28
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043JA01
, 2G043KA02
, 2G043KA03
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043NA01
, 2G043NA04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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レーザ発光分光分析方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-143453
Applicant:川崎製鉄株式会社
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鋼片迅速分析方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-114982
Applicant:日本鋼管株式会社
-
溶鋼成分のレ-ザによる迅速分析方法及びレーザ分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-102492
Applicant:日本鋼管株式会社
-
レーザを用いた成分分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-175665
Applicant:工業技術院長
-
成分計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-184148
Applicant:三菱重工業株式会社
-
レーザ励起プラズマ発光分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-050133
Applicant:株式会社島津製作所
-
元素分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-119326
Applicant:株式会社東芝
-
灰中未燃分計測システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-184516
Applicant:東北電力株式会社, 三菱重工業株式会社
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