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J-GLOBAL ID:200903000132262611

レーザ光による成分分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 光石 俊郎 ,  光石 忠敬 ,  田中 康幸 ,  松元 洋
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002299878
Publication number (International publication number):2004132919
Application date: Oct. 15, 2002
Publication date: Apr. 30, 2004
Summary:
【課題】各種成分組成を迅速に計測するレーザ光による成分分析方法を提供することを課題とする。【解決手段】レーザ光による成分分析方法は、被測定物にレーザ光を照射してその組成成分をプラズマ化し、該プラズマから発生するプラズマ光を分光器に入射し、分光器にて分光したスペクトル光から成分を分析するレーザ光による成分分析方法において、組成成分から特定の一の基準元素を選定し、各組成のスペクトルから基準元素と各成分との相対比を計測する。【選択図】 なし
Claim (excerpt):
被測定物にレーザ光を照射してその組成成分をプラズマ化し、該プラズマから発生するプラズマ光を分光器に入射し、分光器にて分光したスペクトル光から成分を分析するレーザ光による成分分析方法において、 組成成分から特定の一の基準元素を選定し、 基準元素と各成分との相対比を計測することを特徴とするレーザ光による成分分析方法。
IPC (2):
G01N21/63 ,  G01N33/38
FI (2):
G01N21/63 A ,  G01N33/38
F-Term (20):
2G043AA01 ,  2G043BA01 ,  2G043BA07 ,  2G043CA01 ,  2G043CA03 ,  2G043CA05 ,  2G043EA10 ,  2G043FA03 ,  2G043GA25 ,  2G043GB28 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043JA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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