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J-GLOBAL ID：200903000371913233

集積回路の故障診断方法および故障診断装置、素子レベルの故障候補特定システム、並びに、集積回路の故障診断プログラムおよび該プログラムを記録した媒体

Inventor：
真田 克

About 真田 克


Applicant, Patent owner：
株式会社半導体理工学研究センター

About 株式会社半導体理工学研究センター


Agent (6)： 青木 篤 ,  鶴田 準一 ,  島田 哲郎 ,  倉地 保幸 ,  下道 晶久 ,  西山 雅也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005136528
Publication number (International publication number)：2006313133
Application date： May. 09, 2005
Publication date： Nov. 16, 2006
Summary：
【課題】 従来の故障診断は、セル間を接続する配線に対して故障候補を特定する診断方式であり、セルと呼ぶ基本的論理動作を実現する基本回路をベースとし、セル間を接続する配線系の故障やセルの故障候補を特定するに留まっており、セル内の素子レベルの故障診断を行うものではなかった。【解決手段】 複数の基本的論理を実現するセルにて構成された回路集合体内の故障箇所候補をレイアウト情報から特定し(ST5,ST6)、前記レイアウト情報から特定された故障箇所候補に対して論理情報を用いて故障箇所候補を絞り込む(ST7〜ST9)ように構成する。【選択図】 図5
Claim (excerpt)：
複数の基本的論理を実現するセルにて構成された回路集合体内の故障箇所候補をレイアウト情報から特定し、 前記レイアウト情報から特定された故障箇所候補に対して論理情報を用いて故障箇所候補を絞り込むことを特徴とする集積回路の故障診断方法。
IPC (1)：
G01R 31/28
FI (1)：
G01R31/28 F
F-Term (3)：
2G132AA01 ,  2G132AC10 ,  2G132AL12
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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