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J-GLOBAL ID:200903002278250596
X線分光器
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
井島 藤治
, 鮫島 信重
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006222838
Publication number (International publication number):2008047451
Application date: Aug. 18, 2006
Publication date: Feb. 28, 2008
Summary:
【課題】本発明はX線分光器に関し、遮蔽板の調整を確実かつ正確に行なうことができるX線分光器を提供することを目的としている。【解決手段】電子顕微鏡に搭載されたX線分光器であって、試料から発生した特性X線を回折格子7に導き、該回折格子7で分光したX線の強さを検出してX線分析を行なうX線分光器3において、X線分光器3内に入射される分光X線の内、0次光X線12を遮蔽する0次光遮蔽板13と、該0次光遮蔽板13をX線検出器5のX線分光方向に移動する移動機構と、該移動機構にX線分光器内の真空状態を保持するための保持手段を設けて構成される。【選択図】図1
Claim (excerpt):
電子顕微鏡に搭載されたX線分光器であって、試料から発生した特性X線を回折格子に導き、該回折格子で分光したX線の強さを検出してX線分析を行なうX線分光器において、
X線分光器内に入射される分光X線の内、0次光X線を遮蔽する0次光遮蔽板と、
該0次光遮蔽板をX線検出器のX線分光方向に移動する移動機構と、
該移動機構にX線分光器内の真空状態を保持するための保持手段を設けたことを特徴とするX線分光器。
IPC (2):
H01J 37/252
, G01N 23/225
FI (2):
H01J37/252 A
, G01N23/225
F-Term (15):
2G001AA03
, 2G001BA05
, 2G001BA07
, 2G001BA11
, 2G001BA30
, 2G001CA01
, 2G001CA03
, 2G001CA10
, 2G001DA03
, 2G001DA08
, 2G001EA01
, 2G001EA20
, 2G001KA01
, 2G001PA07
, 5C033PP04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
X線分光器を備えた透過型電子顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-326066
Applicant:日本電子株式会社, 寺内正己
Cited by examiner (7)
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特開昭60-076652
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X線分光器を備えた透過型電子顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-326066
Applicant:日本電子株式会社, 寺内正己
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全反射蛍光X線分析方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-316518
Applicant:理学電機工業株式会社
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軟X線干渉計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-217160
Applicant:科学技術振興事業団
-
微細表面周期構造の計測装置および方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-089579
Applicant:財団法人大阪産業振興機構
-
荷電ビーム装置および絞り機構
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-274722
Applicant:株式会社日立製作所
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特開昭60-076652
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