Pat
J-GLOBAL ID:200903002420204920
距離計および距離計測方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
山川 政樹
, 山川 茂樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006323183
Publication number (International publication number):2008139059
Application date: Nov. 30, 2006
Publication date: Jun. 19, 2008
Summary:
【課題】外乱光の影響を除去しつつ、測定対象との距離を計測する。【解決手段】距離計は、発振波長が増加する第1の発振期間と発振波長が減少する第2の発振期間が交互に存在し、かつ発振波形の周波数が周期毎に変化するように、半導体レーザ1の発振波長を変調するレーザドライバ4と、半導体レーザ1の出力を電気信号に変換するフォトダイオード2と、フォトダイオード2の出力に含まれる外乱光の成分を除去し、除去後の出力に含まれる干渉の情報を発振波形の周波数が基準周波数のときの値に換算する周波数計測装置8と、換算後の干渉波形の周波数から測定対象12との距離を求める演算手段9とを有する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
測定対象にレーザ光を放射する半導体レーザと、
発振波長が連続的に単調増加する期間を少なくとも含む第1の発振期間と発振波長が連続的に単調減少する期間を少なくとも含む第2の発振期間とが交互に少なくとも2期間存在し、かつ前記第1の発振期間と前記第2の発振期間を1周期とする発振波形の周波数が周期毎に変化するように、前記半導体レーザの発振波長を変調するレーザドライバと、
前記半導体レーザから放射されたレーザ光と前記測定対象からの戻り光とを電気信号に変換する受光器と、
この受光器の出力信号から複数の周期にわたって周波数が変化しない周波数成分を除去する除去手段と、
前記周波数成分を除去した後の受光器の出力信号に含まれる、前記半導体レーザから放射されたレーザ光と前記測定対象からの戻り光とによって生じる干渉波形の周波数を測定する周波数測定手段と、
前記干渉波形の周波数を前記発振波形の周波数が基準周波数のときの値に換算する換算手段と、
前記換算後の干渉波形の周波数から前記測定対象との距離を求める演算手段とを有することを特徴とする距離計。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (19):
5J084AA05
, 5J084AD20
, 5J084BA04
, 5J084BA22
, 5J084BA36
, 5J084BB02
, 5J084CA08
, 5J084CA28
, 5J084CA33
, 5J084CA34
, 5J084CA43
, 5J084CA50
, 5J084CA53
, 5J084DA01
, 5J084DA07
, 5J084DA08
, 5J084DA09
, 5J084EA02
, 5J084FA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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特開平2-112784
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コヒーレントクロストーク光の測定方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-355289
Applicant:富士通株式会社
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特開昭61-014506
-
超音波ドプラ診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-377981
Applicant:アロカ株式会社
-
特開昭61-029778
-
距離・速度計および距離・速度計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-134980
Applicant:株式会社山武
-
物体の形状測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-087424
Applicant:新技術事業団
-
レーダ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-139849
Applicant:株式会社日立製作所
-
レーザ距離計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-103742
Applicant:スズキ株式会社
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