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J-GLOBAL ID:200903003662314174

単結晶基板の加工方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 上柳 雅誉 ,  藤綱 英吉 ,  須澤 修
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003304660
Publication number (International publication number):2005074663
Application date: Aug. 28, 2003
Publication date: Mar. 24, 2005
Summary:
【課題】単結晶からなる材料で構成される基板に、微細で高アスペクト比の貫通孔又は非貫通孔を形成するための単結晶基板の加工方法を提供する。【解決手段】単結晶からなる材料で構成される基板1に貫通孔2を所定の経路8で形成する加工方法であって、基板1にレーザ光を照射して、所定の経路8に沿って材料を変質させて材料変質部7を形成するレーザ光照射工程(同図(b)〜(d))と、材料変質部7をエッチングして、所定の経路8で貫通孔2を形成する異方性エッチング工程(同図(e))と、を有する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
単結晶からなる材料で構成される基板に非貫通孔又は貫通孔を所定の経路で形成する加工方法であって、 前記基板にレーザ光を照射して、前記所定の経路に沿って前記材料を変質させて材料変質部を形成するレーザ光照射工程と、 前記材料変質部をエッチングして、前記所定の経路で前記非貫通孔又は前記貫通孔を形成する異方性エッチング工程と、を有することを特徴とする単結晶基板の加工方法。
IPC (2):
B28D5/00 ,  B23K26/00
FI (2):
B28D5/00 Z ,  B23K26/00 G
F-Term (14):
3C069AA04 ,  3C069BA08 ,  3C069BB01 ,  3C069BB04 ,  3C069CA00 ,  3C069EA02 ,  3C069EA05 ,  4E068AA01 ,  4E068AF02 ,  4E068CA01 ,  4E068CD02 ,  4E068CD03 ,  4E068CE01 ,  4E068DA10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (5)
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