Pat
J-GLOBAL ID:200903005780391534

酸化物膜の製造方法と強誘電体メモリの製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 尾身 祐助
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999320452
Publication number (International publication number):2001139313
Application date: Nov. 11, 1999
Publication date: May. 22, 2001
Summary:
【要約】【課題】 酸化物膜、特に強誘電体メモリの強誘電体酸化物膜を低温で形成できる製造方法を提供して、半導体集積回路の特性変動や特性劣化を招くことなく高機能なロジック、強誘電体メモリを混載可能にする。【解決手段】 基板温度300°C程度でRFスパッタを行ったPZT非晶質膜について、H2濃度4%のH2/N2混合ガス中で基板温度を上げながらX線回折測定を行った結果を図に示す。300°Cを超えたあたりから、ペロブスカイト相のピークが徐々に強くなっている様子が見られ、400°C以上では鋭いペロブスカイトのピークが観測される。すなわち、還元雰囲気で熱処理を行うことにより、450°C以下の低温で強誘電性を示すペロブスカイト膜を得ることが実証された。この技術を強誘電体メモリの強誘電体膜形成に適用する。
Claim (excerpt):
熱力学的準安定相酸化物膜を還元雰囲気ガス中で熱処理を行うことによって熱力学的安定相酸化物膜に相転移させることを特徴とする酸化物膜の製造方法。
IPC (9):
C01B 13/14 ,  C01G 25/00 ,  C01G 33/00 ,  C23C 14/58 ,  C30B 29/32 ,  H01L 21/316 ,  H01L 27/10 451 ,  H01L 27/108 ,  H01L 21/8242
FI (8):
C01B 13/14 Z ,  C01G 25/00 ,  C01G 33/00 A ,  C23C 14/58 A ,  C30B 29/32 A ,  H01L 21/316 X ,  H01L 27/10 451 ,  H01L 27/10 651
F-Term (70):
4G042DA01 ,  4G042DA02 ,  4G042DB01 ,  4G042DB05 ,  4G042DB07 ,  4G042DB22 ,  4G042DB31 ,  4G042DD02 ,  4G042DD08 ,  4G042DE03 ,  4G042DE12 ,  4G048AA05 ,  4G048AB01 ,  4G048AC02 ,  4G048AD02 ,  4G048AD06 ,  4G048AE05 ,  4G077AA03 ,  4G077BC11 ,  4G077BC40 ,  4G077BC41 ,  4G077BC42 ,  4G077DA11 ,  4G077HA06 ,  4G077HA11 ,  4K029AA08 ,  4K029AA24 ,  4K029BA50 ,  4K029BB01 ,  4K029BB07 ,  4K029BC03 ,  4K029CA05 ,  5F058BA11 ,  5F058BA20 ,  5F058BC03 ,  5F058BC04 ,  5F058BF13 ,  5F058BF37 ,  5F058BF39 ,  5F058BH01 ,  5F058BH05 ,  5F058BJ01 ,  5F083AD21 ,  5F083AD49 ,  5F083FR02 ,  5F083GA21 ,  5F083JA13 ,  5F083JA15 ,  5F083JA36 ,  5F083JA38 ,  5F083JA39 ,  5F083JA40 ,  5F083JA43 ,  5F083MA06 ,  5F083MA16 ,  5F083MA17 ,  5F083MA18 ,  5F083MA19 ,  5F083MA20 ,  5F083PR18 ,  5F083PR22 ,  5F083PR33 ,  5F083PR40 ,  5F083PR43 ,  5F083PR44 ,  5F083PR45 ,  5F083PR53 ,  5F083PR54 ,  5F083PR55 ,  5F083ZA12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
Show all

Return to Previous Page