Pat
J-GLOBAL ID:200903006161219715

電気光学プローブおよび磁気光学プローブ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 志賀 正武 (外6名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000204251
Publication number (International publication number):2002022775
Application date: Jul. 05, 2000
Publication date: Jan. 23, 2002
Summary:
【要約】【課題】 空間の電界を該電界をみだすことなくそのまま測定することができる電気光学プローブの提供。【解決手段】 計測器本体の制御信号に基づいてレーザ光を発するレーザダイオード9と、端面に反射膜2aを有する電気光学素子2と、ダイオード9と電気光学素子2との間に設けられ、レーザダイオード9が発したレーザ光を通過させレーザ光が反射膜2aによって反射された反射光を分離するアイソレータ14と、アイソレータ14において分離された反射光を電気信号に変換する2つのフォトダイオード12,13と、電気光学素子2を保護するために用いるガラス板1bとを備える。
Claim (excerpt):
計測器本体の制御信号に基づいてレーザ光を発するレーザダイオードと、端面に反射膜を有する電気光学素子と、前記レーザダイオードと前記電気光学素子との間に設けられ、前記レーザダイオードが発したレーザ光を通過させ前記レーザ光が前記反射膜によって反射された反射光を分離するアイソレータと、前記アイソレータにおいて分離された反射光を電気信号に変換する2つのフォトダイオードと、前記電気光学素子を保護するために用いる低誘電体とを備える電気光学プローブ。
IPC (3):
G01R 15/24 ,  G01R 13/40 ,  G01R 19/00
FI (4):
G01R 13/40 ,  G01R 19/00 V ,  G01R 15/07 C ,  G01R 15/07 B
F-Term (15):
2G025AA12 ,  2G025AA17 ,  2G025AB10 ,  2G025AB11 ,  2G035AA12 ,  2G035AA13 ,  2G035AA15 ,  2G035AA21 ,  2G035AB04 ,  2G035AB11 ,  2G035AC01 ,  2G035AD35 ,  2G035AD36 ,  2G035AD39 ,  2G035AD41
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
  • E-Oプローブ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-102633   Applicant:日本電気株式会社
  • 電界検出装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-246106   Applicant:横河電機株式会社
  • アンテナ測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-228027   Applicant:日本電信電話株式会社
Show all

Return to Previous Page