地盤の調査方法及び装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：市東篤 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001102489
Publication number (International publication number)：2002296189
Application date： Mar. 30, 2001
Publication date： Oct. 09, 2002
Summary：

【要約】【課題】地盤の構成物質を短時間で正確に検出できる調査方法及び装置を提供する。【解決手段】地盤1の被調査部位2にレーザ光6を照射してアブレーションによるプラズマ7を発生させ、プラズマ7の発光のスペクトル強度分布10により被調査部位2の地盤構成物質を検出する。地盤1にボーリング孔3を穿ち、ボーリング孔3の入口から孔内の被調査部位2まで導波路9を挿入し、導波路9経由でレーザ光6を被検査部位2に照射し且つ被検査部位2で発生したプラズマ7の発光をボーリング孔3の入口まで導き前記地盤構成物質の検出に供することができる。例えば、スペクトル強度分布10中の汚染物質成分のスペクトル強度に基づき被調査部位2の汚染を調査する。また、岩盤種類が既知の参照岩盤のスペクトル強度分布15を求め、被調査部位2のスペクトル強度分布10と参照岩盤のスペクトル強度分布15とにより被調査部位2の岩盤種類を調査する。

Claim (excerpt)：

地盤の被調査部位にレーザ光を照射してアブレーションによるプラズマを発生させ、該プラズマの発光のスペクトル強度分布により前記被調査部位の地盤構成物質を検出してなる地盤の調査方法。

IPC (5)：

G01N 21/71 , E21B 7/15 , E21D 9/00 , E21D 9/10 , G01V 8/10

FI (5)：

G01N 21/71 , E21B 7/15 , E21D 9/00 Z , E21D 9/10 Z , G01V 9/04 U

F-Term (24)：

2D054GA15 , 2D054GA82 , 2D054GA92 , 2G043AA01 , 2G043BA01 , 2G043BA04 , 2G043BA05 , 2G043CA05 , 2G043EA10 , 2G043GA02 , 2G043GA04 , 2G043GB01 , 2G043GB03 , 2G043HA03 , 2G043HA05 , 2G043JA05 , 2G043KA01 , 2G043KA02 , 2G043KA08 , 2G043KA09 , 2G043LA03 , 2G043MA01 , 2G043NA01 , 2G043NA06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

特開平2-134545
管渠内壁面観測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-093065 Applicant：東亜グラウト工業株式会社, 株式会社コア
溶融金属のレーザー発光分光分析用プローブ及び分析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-022630 Applicant：日本鋼管株式会社

Show all

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

Return to Previous Page