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J-GLOBAL ID:200903008476989716
外壁検査装置および外壁検査方法並びに外壁検査診断システム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
落合 稔
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002011880
Publication number (International publication number):2003214829
Application date: Jan. 21, 2002
Publication date: Jul. 30, 2003
Summary:
【要約】【課題】 構造物の外壁を撮像してモニター画面に表示し、撮像現場において、外壁の状態を容易かつ正確に検査でき、検査結果を容易かつ迅速にデータ化できる外壁検査装置および外壁検査方法並びに外壁検査診断システムを提供する。【解決手段】 検査対象となる構造物の外壁を撮像してモニター画面に表示し、その撮像現場において外壁の状態を検査するための外壁検査装置であって、構造物の外壁の撮像を行う撮像手段と、撮像の結果として撮像画像を記憶する撮像画像記憶手段と、モニター画面を有し、撮像画像と同一位置かつ同一縮尺に関連づけられた画像データから成る描画シートを、撮像画像上に透視可能に重ねてモニター画面に表示し、描画シート上に、撮像画像に基づく検査結果または診断結果を描画するための描画手段と、描画結果の描画シートを記憶する検査結果記憶手段と、を備えたことを特徴とする。
Claim (excerpt):
検査対象となる構造物の外壁を撮像してモニター画面に表示し、その撮像現場において前記外壁の状態を検査するための外壁検査装置であって、前記構造物の外壁の撮像を行う撮像手段と、前記撮像の結果として撮像画像を記憶する撮像画像記憶手段と、前記モニター画面を有し、前記撮像画像と同一位置かつ同一縮尺に関連づけられた画像データから成る描画シートを、前記撮像画像上に透視可能に重ねて前記モニター画面に表示し、前記描画シート上に、前記撮像画像に基づく検査結果または診断結果を描画するための描画手段と、描画結果の前記描画シートを記憶する検査結果記憶手段と、を備えたことを特徴とする外壁検査装置。
IPC (4):
G01B 11/30
, E04G 23/00 ESW
, G01B 11/00
, G01D 7/10
FI (4):
G01B 11/30 Z
, E04G 23/00 ESW
, G01B 11/00 B
, G01D 7/10
F-Term (28):
2E176BB38
, 2F065AA01
, 2F065AA06
, 2F065AA07
, 2F065AA20
, 2F065AA21
, 2F065AA49
, 2F065AA51
, 2F065BB02
, 2F065CC14
, 2F065DD06
, 2F065FF04
, 2F065FF11
, 2F065FF61
, 2F065FF65
, 2F065FF67
, 2F065GG04
, 2F065GG10
, 2F065HH04
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL06
, 2F065NN20
, 2F065PP05
, 2F065QQ24
, 2F065QQ31
, 2F065SS02
, 2F065SS13
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (14)
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外壁診断方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-320443
Applicant:多摩川精機株式会社, 株式会社大林組
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特開平3-041307
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外壁材の粒状模様評価方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-018924
Applicant:旭硝子株式会社
-
画像計測装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-193056
Applicant:株式会社日立製作所
-
表面形状の計測描画装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-253912
Applicant:アイシン精機株式会社
-
建造物のリモートセンシング方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-126210
Applicant:株式会社大林組
-
窓ガラスの調整方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-069638
Applicant:株式会社大林組
-
基板検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-072848
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
画像データ処理装置及び撮影装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-083532
Applicant:ミノルタ株式会社
-
既設建物外壁形状寸法測定方法及び測距装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-291188
Applicant:株式会社日本アルミ
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特開昭62-203013
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構造物に形成されたひび割れ欠陥検出プログラム、ひび割れ欠陥検出方法及びひび割れ欠陥検出システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-133180
Applicant:東京電力株式会社, 東電工業株式会社, 株式会社構造計画研究所
-
画像処理を用いたひび割れ評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-302659
Applicant:株式会社ニコン, 株式会社ニコン技術工房
-
写真測量用画像処理装置、写真測量用画像処理方法および写真測量用画像処理プログラムを格納した記憶媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-252229
Applicant:旭光学工業株式会社
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