Pat
J-GLOBAL ID:200903019847213190
基板検査装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000072848
Publication number (International publication number):2001266125
Application date: Mar. 15, 2000
Publication date: Sep. 28, 2001
Summary:
【要約】【課題】自動的に欠陥部分の情報を集計してガラス基板の良否判定を行い、欠陥部分の情報の管理を容易にすること。【解決手段】画像取込部1において液晶ディスプレイに用いられるガラス基板3を撮像して取得された干渉画像データ、回折画像データを画像表示用ディスプレイ14の画面上に表示し、このディスプレイ画面上の表示画像に対してキーボード11又はマウス12の操作により欠陥部分が指示されると、この欠陥部分の欠陥情報、例えば傷、異物、むら、汚れが欠陥登録部19により欠陥情報メモリ20に登録され、この登録された欠陥情報に基づいて基板判定部22によりガラス基板3の良否判定を行い、さらに画像処理部16によって欠陥情報を干渉画像データ又は回折画像データに重ね合せてディスプレイ画面上に表示する。
Claim (excerpt):
被検査体を撮像して取得された複数種類の画像データをディスプレイ画面上に表示する画像表示手段と、前記ディスプレイ画面上に表示される各種画像に対して欠陥部分が指示されると、この指示された前記欠陥部分の欠陥情報を登録する欠陥登録手段と、この欠陥登録手段により登録された各種画像に対応する前記欠陥情報を重ね合せて前記ディスプレイ画面上に表示する合成表示手段と、前記欠陥登録手段により登録された前記欠陥情報に基づいて前記被検査体の良否判定を行う判定手段と、を具備したことを特徴とする基板検査装置。
IPC (5):
G06T 1/00 305
, G01B 11/24
, G01B 11/30
, G01N 21/956
, G01N 21/958
FI (6):
G06T 1/00 305 A
, G01B 11/30 A
, G01N 21/956 A
, G01N 21/958
, G01B 11/24 F
, G01B 11/24 K
F-Term (51):
2F065AA03
, 2F065AA49
, 2F065AA51
, 2F065AA61
, 2F065CC19
, 2F065CC25
, 2F065DD06
, 2F065FF42
, 2F065FF51
, 2F065GG16
, 2F065HH12
, 2F065JJ02
, 2F065JJ08
, 2F065JJ25
, 2F065MM03
, 2F065NN20
, 2F065PP12
, 2F065QQ00
, 2F065QQ21
, 2F065QQ23
, 2F065QQ24
, 2F065QQ27
, 2F065QQ28
, 2F065QQ51
, 2F065RR05
, 2F065RR06
, 2F065SS02
, 2F065SS13
, 2F065TT08
, 2G051AA42
, 2G051AA51
, 2G051AB02
, 2G051CA03
, 2G051DA06
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EB01
, 2G051EC01
, 2G051FA01
, 5B057AA03
, 5B057BA02
, 5B057BA23
, 5B057BA24
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CE08
, 5B057CH12
, 5B057DA03
, 5B057DA16
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (15)
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欠陥種別判定装置及びプロセス管理システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-234818
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
被検査物の欠陥情報収集方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-092214
Applicant:株式会社日立製作所
-
物体の欠陥検査装置および方法、記録媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-342761
Applicant:キヤノン株式会社
-
特開平1-301151
-
特開平1-301151
-
ウェブの欠陥検査装置及びウェブの欠陥検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-135595
Applicant:藤森工業株式会社
-
マクロ検査装置及びプロセスモニタリング方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-018693
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
特開平4-285845
-
パターン検査方法及び検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-028112
Applicant:株式会社日立製作所
-
特開平3-186707
-
特開平3-186707
-
特開平3-194415
-
特開平3-194415
-
帯状体の表面欠陥判定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-295154
Applicant:日本鋼管株式会社
-
外観検査方法および外観検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-253934
Applicant:株式会社日立製作所
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