3次元形状計測方法及び3次元形状計測装置並びにその処理プログラムと記録媒体

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：秋田収喜 , 近野恵一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003050687
Publication number (International publication number)：2004257934
Application date： Feb. 27, 2003
Publication date： Sep. 16, 2004
Summary：

【課題】1枚の画像だけからShape from Focus法によって簡易的な3次元形状を求めることが可能な技術を提供する。【解決手段】所定の位置に焦点位置を有する撮影手段で撮影された撮影画像を入力する第1のステップと、前記撮影画像内の輝度変化が所定値以上の領域について空間周波数スペクトルを求める第2のステップと、前記空間周波数スペクトルについて、空間周波数に対するスペクトル強度の減衰が最小となる方向の減衰率を求める第3のステップと、前記減衰率に基づき当該領域の被写体と前記撮影手段との距離を求める第4のステップと、前記撮影画像内の輝度変化が前記所定値未満の領域について、前記距離が求められた領域からの補間によって当該被写体と前記撮影手段との距離を求める第5のステップとを有するものである。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

所定の位置に焦点位置を有する撮影手段で撮影された撮影画像を入力する第1のステップと、前記撮影画像内の輝度変化が所定値以上の領域について空間周波数スペクトルを求める第2のステップと、前記空間周波数スペクトルについて、空間周波数に対するスペクトル強度の減衰が最小となる方向の減衰率を求める第3のステップと、前記減衰率に基づき当該領域の被写体と前記撮影手段との距離を求める第4のステップと、前記撮影画像内の輝度変化が前記所定値未満の領域について、前記距離が求められた領域からの補間によって当該被写体と前記撮影手段との距離を求める第5のステップとを有することを特徴とする3次元形状計測方法。

IPC (4)：

G01B11/24 , G06T1/00 , G06T7/00 , G06T7/40

FI (4)：

G01B11/24 K , G06T1/00 315 , G06T7/00 C , G06T7/40 B

F-Term (40)：

2F065AA06 , 2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065DD06 , 2F065FF04 , 2F065FF41 , 2F065JJ03 , 2F065QQ00 , 2F065QQ03 , 2F065QQ16 , 2F065QQ17 , 2F065QQ24 , 2F065QQ26 , 2F065QQ27 , 2F065QQ28 , 2F065QQ42 , 5B057BA15 , 5B057BA17 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CD14 , 5B057CG10 , 5B057DA20 , 5B057DB02 , 5B057DB09 , 5B057DC16 , 5B057DC36 , 5L096BA08 , 5L096CA04 , 5L096CA05 , 5L096CA06 , 5L096DA02 , 5L096EA27 , 5L096EA33 , 5L096FA06 , 5L096FA23 , 5L096FA26 , 5L096GA12 , 5L096GA53

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (11)

立体情報入力装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-222697 Applicant：株式会社日立製作所
ノイズ減少方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-169651 Applicant：アグファ・ゲヴェルト・ナームロゼ・ベンノートチャップ
非接触形状測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-200481 Applicant：株式会社オプトン

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