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J-GLOBAL ID：200903010484773999

3次元計測方法及びそれを用いた3次元形状計測装置

Inventor：
野坂 健一郎

About 野坂 健一郎

, 
中原 智治

About 中原 智治


Applicant, Patent owner：
松下電工株式会社

About 松下電工株式会社


Agent (3)： 板谷 康夫 ,  田口 勝美 ,  水田 愼一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007083049
Publication number (International publication number)：2008241483
Application date： Mar. 27, 2007
Publication date： Oct. 09, 2008
Summary：
【課題】3次元計測方法及びそれを用いた装置において、撮像のボケによる影響を排除して計測領域における3次元形状を高速且つ高精度に計測できるようにすることで、計測領域における識別性能を向上させる。【解決手段】計測対象物の計測領域における画像から得られる輝度値分布を縞パターンに直交する方向に微分した輝度微分値と、計測対象物の反射率の差異が縞パターンから得られる位相値に及ぼす影響を補正するための位相補正値との補正関係を予め求めておき、計測対象物に所定の光を投影して撮像し、所定の撮像画像を取得する処理(S1)と、画像の輝度についての微分画像を生成する処理(S2)と、縞パターンの位相値を算出する処理(S3)と、撮像のボケによる縞パターンの位相値の誤差を補正する処理(S4)と、撮像画像の画素の位置について、3次元座標を計算する処理とを実行させることで、計測領域における3次元形状を計測する。【選択図】図11
Claim (excerpt)：
計測対象物に縞パターンを当該縞パターンの位相をシフトさせて複数回投影して撮像する位相シフト法を用いることにより、計測対象物が複数の反射率を有する場合の計測対象物の計測領域における3次元形状を計測する3次元計測方法であって、 前記計測領域における画像から得られる輝度値分布を縞パターンに直交する方向に微分した輝度微分値と、計測対象物の反射率の差異が縞パターンから得られる位相値に及ぼす影響を補正するための位相補正値との補正関係を予め求めておき、 3次元形状を計測する際に、前記計測領域から輝度微分値を算出し、前記補正関係から得られる位相補正値に基づいて前記反射率の差異による影響を受けた位相値を補正し、前記補正された位相値を、位相シフト法を用いて計算を行うことにより、前記計測領域における3次元形状を計測することを特徴とする3次元計測方法。
IPC (3)：
G01B 11/25 ,  G06T 1/00 ,  G06T 5/20
FI (4)：
G01B11/25 H ,  G06T1/00 315 ,  G06T5/20 C ,  G06T5/20 B
F-Term (38)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD04 ,  2F065DD09 ,  2F065FF01 ,  2F065FF07 ,  2F065HH06 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL33 ,  2F065LL53 ,  2F065NN08 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR07 ,  2F065SS03 ,  2F065UU01 ,  2F065UU05 ,  5B057BA02 ,  5B057BA15 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CC02 ,  5B057CE03 ,  5B057CE05 ,  5B057CE06 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 3次元形状測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-101168   Applicant：オリンパス株式会社
  • 3次元計測方法及び装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-201181   Applicant：オリンパス株式会社
Cited by examiner (3)
  • 物体の三次元形状計測方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-192452   Applicant：富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
  • 3次元計測方法とその計測装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-268415   Applicant：オリンパス株式会社
  • 三次元計測装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-304350   Applicant：シーケーディ株式会社

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