Pat
J-GLOBAL ID：200903010947432924

X線検査装置

Inventor：
株本 隆司

About 株本 隆司


Applicant, Patent owner：
株式会社イシダ

About 株式会社イシダ


Agent (2)： 小野 由己男 ,  加藤 秀忠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004175922
Publication number (International publication number)：2005031069
Application date： Jun. 14, 2004
Publication date： Feb. 03, 2005
Summary：
【課題】 X線検査装置において物品の数量カウント検査に要する時間を短縮しつつ、検査の精度を高く維持する。【解決手段】 X線検査装置は、X線を照射するX線照射器13と、X線ラインセンサ14と、制御コンピュータ20とを備えている。X線ラインセンサ14は、X線照射器13からのX線を受光する。制御コンピュータ20は、X線ラインセンサ14で受光したX線による画像に対して画像処理を施し、X線照射器13とX線ラインセンサ14との間を通る商品の検査を行う。また、制御コンピュータ20は、画像処理あるいは検査において、画像上で塊部分の周囲長を、その塊部分の周囲を形成する周囲画素の配列に基づき算出し、基準周囲長と比較する。【選択図】 図5
Claim (excerpt)：
X線を照射するX線源と、 前記X線源からのX線を受光するX線受光部と、 前記X線受光部で受光したX線による画像に対して画像処理を施し、前記X線源と前記X線受光部との間を通る物品の検査を行う検査部と、 を備え、 前記検査部は、前記画像処理あるいは前記検査において、前記画像上の塊部分の周囲長を、前記塊部分の周囲を形成する周囲画素の配列に基づき算出し、基準周囲長と比較する、 X線検査装置。
IPC (2)：
G01N23/04 ,  G06T1/00
FI (2)：
G01N23/04 ,  G06T1/00 300
F-Term (33)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001GA04 ,  2G001GA05 ,  2G001GA07 ,  2G001HA07 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA20 ,  2G001LA01 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11 ,  2G001SA13 ,  5B057AA02 ,  5B057BA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CH20 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5B057DC04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • X線検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-335213   Applicant：株式会社イシダ, 株式会社東研
  • 放射線検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-118628   Applicant：株式会社島津製作所
Cited by examiner (7)
  • 放射線検査装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-118628   Applicant：株式会社島津製作所
  • 粒子画像分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-271453   Applicant：東亜医用電子株式会社
  • 特開平2-055953
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM